Altium Designer Rules规则详解（续3）（值得收藏）

dapmood

测试点设计规则

Testpiont （测试点设计）规则用于设计测试点的形状、用法等，有如下几项设置。

1 ． Testpoint Style （测试点风格）选项区域设置

该规则中可以指定测试点的大小和格点大小等，设置界面如图6 — 27所示。

6 _8 U- B, u( V4 `+ v

图 6 — 27 测试点风格设置

该设置对话框有如下选项：

Size文本框为测试点的大小， Hole Size文本框为测试点的导孔的大小，可以指定Min （最小值）、 Max （最大值）和 Preferred （最优值）。
+ Z! s2 i6 c3 ]' T. l7 X: iGrid Size文本框：用于设置测试点的网格大小。系统默认为1mil大小。
Allow testpoint under component 复选项：用于选择是否允许将测试点放置在元件下面。复选项Top 、 Bottom等选择可以将测试点放置在哪些层面上。

右边多项复选项设置所允许的测试点的放置层和放置次序。系统默认为所有规则都选中。

2 ． Testpoint Usage （测试点用法）选项区域设置

测试点用法设置的界面如图6 — 28所示。

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图 6 — 28 测试点用法设置

该设置对话框有如下选项：

Allow multiple testpoints on same net复选项：用于设置是否可以在同一网络上允许多个测试点存在。
% L, B2 {9 D9 [: k) R5 a' DTestpoint 选项区域中的单选项选择对测试点的处理，可以是Required ( 必须处理 ) 、 Invalid （无效的测试点）和 Don't care （可忽略的测试点）。

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