请教大家问题

kjdskj

我使用该芯片的ADC0、ADC1采集2mV的小信号，PGA均设定为128倍。
ADC0接AIN0正AIN3负的差分；ADC1接AIN1正AIN2负的差分。
2 \2 e2 `' |( }/ ]$ G一共焊接了六台样机，一开始的两周，测量功能完全正常：
- Z* B$ Q$ e* r3 H6 Y# E' O" k# xADC0、ADC1的采样结果均是0.002516V
- T5 C; q( @# `2 v2 k2 F  O! m直到50℃温度测试的第15天，发现ADC0的采样结果完全错误，采样16次，结果都是4*10E-7这样接近0的值(每个值都不一样)。
1 i) _/ A& T7 l5 d为了排除电路原因引起的测量不准，我把原ADC1配置到ADC0那一路，也就是：ADC1接AIN0正AIN3负的差分；ADC0接AIN1正AIN2负的差分。结果，ADC0仍然是错的，ADC1仍然是对的。 所以这个故障和待测电路无关。
4 U$ \1 V* D& m& F进一步调试，我发现把ADC0的PGA设定为1，也就是关掉PGA---测量结果就是准确的了。
7 e& ]* e& q5 c5 R用官方代码ADuCM360_361_Code_Examples_Function_Libraries\ADuCM360361 code examples and function libraries\examples\ADC_DMA  重复以上，现象相同。所以也不是代码引起的故障。
0 H' N& O. B, n5 }
综上，我得出结论： ADC0的那一路PGA坏掉，ADC1的那一路PGA完好。
另外，芯片是直接国外进口的，应该不存在劣质品的可能。

# O2 x4 a) p$ G4 O& V4 j那么问题来了：
+ t# B+ B( s0 D9 a" A: v2 a1.什么样的恶劣条件会导致ADuCM360的PGA坏掉，而其他功能诸如串口、IO完全正常？
2.单片机电路的哪一部分，具体是哪一个引脚的外围电路异常，会引起PGA坏掉？
# P9 Q+ V: N% c3.怎么样检测PGA坏掉，能否有方法百分之百的得出PGA是坏的这一结论？
5 ~" e3 F* Z* f- |* i/ g" p* \望ADI的技术人员解答，谢谢！

nolita

造成芯片损坏的原因 可能是输入超出了最大额定范围，如果超出可能损坏