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从各研究机构研究的成果可以看出,环境温度和负载率对可靠性的影响很大,这两个方面对开关电源由于有很大的影响,所以下面将从这两个方面分析如何设计出高可靠的开关电源。其中,PD为使用功率;PR为额定功率。UD为使用电压;UR为额定电压。 1)环境温度对元器件的影响 表1~表3分别列出环境温度对半导体器件、电容器和电阻器可靠性的影响。表1和表13以PD/PR=0.5使用负载设计,而表12则以UD/UR=0.65使用负载设计。
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( a' I- y! t# {0 H; l 表1 环境温度对半导体器件可靠性的影响
由表1可知,当环境温度Ta从20℃增加到80℃时,半导体器件的失效率增大到30倍。 由表2可知,当环境温度Ta从20°C增加到80°C时,电容器的失效率增大到14倍。' N5 ~& r, x. B9 k9 A7 ~
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表2 环境温度对电容器可靠性的影响
从表3可知,当环境温度Ta从20℃增加到80℃时,电阻器的失效率增大到4倍。 ![]()
* m; F2 m4 f! @& @0 ?5 X1 s) D$ \ 表3环境温度对电阻器可靠性的影晌
2)负载率对元器件的影响 表4和表5分别列出了负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响。 由表4可知,当PD/PR=0.8时,半导体器件的失效率是PD/PR=0.2时的1000倍。 ![]()
" h2 t( K3 B9 e' c 表4 负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响(环境温度50°C)
从表5可知,当PD/PR=0.8时,电阻器的失效率是PD/PR=0.2时的8倍。
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表5负载率对电阻器可靠性的影响 2 h* E% [5 k" ` G3 K3 o, g% a7 M5 K
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