基于51单片机的LCR测试仪的设计【毕业论文】

ad_gao

电子材料与元件的电学性能参数的测量时一项基本而重要的工作。这些电
学参数包括不同频率、不同温度下的电阻、电容、阻抗、介电常数、损耗角正
切值等特性测量。全面而准确地掌握这些特性，对分析、改进电子材料与元件
% A' Z5 q3 g8 A0 u0 c的性能十分重要。以前，这类测试工作是采用测试仪器人工逐点给出不同测试
条件（温度、频率）、旋动转换开关，记录完成， 以达到对多个样品的一次测量，
4 b2 a) w9 i) W8 ~4 u0 J. Q& c然后对测试数据进行人工或计算机辅助分析处理。需投入大量的人力和精力，
, ]& l' B/ Q7 w数据分析困难。
* a+ n' F# {% h, U为了克服上述缺点，使测量数据更全面和准确，实现电子材料与元件特性
测量与数据分析的自动化和智能化，设计了全自动的RCL 测试系统。采用51
单片机技术设计，具有操作简单、自动转换量程、体积更小、功能更强大、便
# L9 |' |" V( F, C* S- v& l$ A于携带和人机界面友好等特点。
现在国内外有很多仪器设备公司都致力于低功耗手持式电抗元器件测量仪
的研究与制作，而且精度越来越高，功耗越来越低，体积越来越小一直是他们
: E' J9 z3 R, }/ |. ]# m" T/ f不断努力的方向。因此基于51 单片机的RCL 测试仪的设计有重要的意义。
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Maomao_

内容不完整？看着缺了后面的部分

Maomao_

学一下，没做过
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Explorersnb

，，，，

行者～ABC

学习一下。