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MOSFET管抗静电击穿能力。

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1#
发表于 2018-3-13 15:15 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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请教下,我用APEC的MOS管,经常出现MOS管不知不觉就损坏的,我怀疑是被静电击穿,现在我想更换,不知道哪个参数决定着MOS管的抗静电击穿能力
( h/ b+ y# ^1 O4 r/ r; T
  • TA的每日心情

    2024-6-14 15:01
  • 签到天数: 137 天

    [LV.7]常住居民III

    10#
    发表于 2018-3-16 10:52 | 只看该作者
    看看学习下

    该用户从未签到

    8#
    发表于 2018-3-15 09:12 | 只看该作者
    看手册,估计是你的设计问题,特别是VGS, 很多人设计都是把G极直接拉到0V 通断。这样在控制高电压时候,很容易造成VGS超过规格书要求造成损坏!
  • TA的每日心情
    奋斗
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    [LV.8]以坛为家I

    7#
    发表于 2018-3-14 23:30 | 只看该作者
    會是inrush current的關係嗎?

    该用户从未签到

    6#
    发表于 2018-3-14 10:01 | 只看该作者
    在你怀疑的点加ESD试试

    该用户从未签到

    4#
    发表于 2018-3-13 22:36 | 只看该作者
    本帖最后由 超級狗 于 2018-3-13 22:38 编辑 ( C# ^' s9 ^! X* {' N7 [
    Aubrey 发表于 2018-3-13 16:32" x& m7 p, Y) z7 g
    什么型号?设计上是否合理、能否上图?
    他是合理的懷疑!(簡稱「莫須有」)( i2 u  Z( u/ M1 |4 I4 V
    0 `4 P+ x8 t( h5 n

    1 N) [5 S# M9 x  Q

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2018-3-13 16:32 | 只看该作者
    什么型号?设计上是否合理、能否上图?

    点评

    是啊,不能简单的怀疑就是ESD打坏,实际现在工艺ESD打坏MOS可能性很小了,栅极电涌、功率发热等设计不合理破坏更常见。  发表于 2018-3-14 11:28
    他是「合理」的懷疑!  详情 回复 发表于 2018-3-13 22:36
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