考虑一下基本的SI的问题有哪些:串扰,反射,时序。。。 & M) z, }( m% `/ Y串扰和反射 # _* e( l3 W" z' H考虑接口电平标准,避免信号的下冲调入不确定区,造成误触发。 ) s% J! O+ s6 ?. a+ E4 J2 z考虑IC接口所能容忍的最大最小电压,降低过冲的影响) p9 O- k- E, e5 g
时序" G2 S( O) `3 s' J# f8 y6 F% L
考虑板级走线延时,结合IC在test load情况下的timing参数,进行延时预算,当然,串扰和反射也会影响到板级走线延时的分析 p( b% y8 `; N% `" ]$ M
* f- A K K5 A e [; u% m而且这些分析有一个默认的前提就是,我们的电源平面是理想的,没有电源跌落或地弹噪声的存在,但事实上,这不是真实情况。糟糕的PDS会使得对于SI的分析变得更加复杂。 5 M. z& N7 T4 E" u, i/ A. T5 r2 {+ r3 y9 F) K
严格的将,还要考虑EMI,EMC的问题。。。。。。。。。。。