EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
本帖最后由 jacky401 于 2019-12-4 09:27 编辑 ) e9 F3 V# Q! b( e& I$ W
3 p+ s! t. z/ C, X$ f1 o( a
目录
7 n$ E- b- \: a6 u) \1、射频单板ICT DFT设计3 L. k( p' `4 x: ?# v0 a
1.1、射频单板ICT测试点设计规则; K/ a9 e; M2 y; Y3 M* U! `
1.2、射频器件ICT DFT设计规则
% P( V+ b8 X" h7 J! n/ U3 P) J2、射频单板、模块FT DFT设计
( a( w+ k4 M0 o( R 2.1、射频单板连接器归一化
7 }2 M4 p9 a W8 C; A. |; d, L 2.2、射频单板外接电源插座归一化
1 h% L2 Y# H) H4 V2 V! I+ T 2.3、天馈系统驻波检测设计
3 E5 A/ T& K) T f9 N- _ 2.4、射频模块对外接口设计) g, b9 \$ L) b+ C7 _% C
2.5、双工器可测试性设计
4 g+ u: y7 f) H: p& ^* c6 e 2.6、功放模块可测试性设计& R& m; w5 [% t$ ^- E3 k1 i1 \( d/ A2 m
2.7、低噪放可测试性设计
* f5 C5 {1 \9 M9 G3 W 2.8、模块可测试性设计
: @% m; z$ P1 {2 s7 v 0 k2 B, G% i2 e B' W6 W
1 u' Y% J+ o6 Z2 v( [( Y4 ~
| 
/1 
发表于 2019-12-4 09:25
收藏
淘帖
支持！
反对！
发表于 2024-6-16 23:45
