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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发技术版块 › 芯片SIP|封装设计 › 芯片封装引线电性能的测试
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芯片封装引线电性能的测试

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bekindasd

该用户从未签到
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1#
发表于 2022-11-4 13:27 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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集成电路封装电性能主要包括引线电阻、引线间绝缘电阻 、引线间电容及负载电容 、引线电感等 。随着集成电路朝着高速 、高性能 、高密度封装方向发展 ，封装的电性能对集成电路性能的影响也越来越大 ，因此必须加以检测与控制 。3 }" L$ H+ K+ b, _& _/ c+ ^4 n( d2 z, v" t
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瞪郜望源_21
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-22 15:53

    • 签到天数: 1221 天

    [LV.10]以坛为家III
    4#
    发表于 2022-11-6 15:08 | 只看该作者
    不错不错，很是专业稀饭和有引导作用，学习下

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    ssr

    该用户从未签到
    5#
    发表于 2022-11-6 15:48 | 只看该作者
    看看是啥啊啊啊
    9 g' R/ E7 L: M3 F

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    tutututut
  • TA的每日心情
    开心
    2022-12-26 15:46

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    6#
    发表于 2022-11-8 17:54 | 只看该作者
    测试是必要的

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    瞪郜望源_21
  • TA的每日心情
    开心
    2025-11-22 15:53

    • 签到天数: 1221 天

    [LV.10]以坛为家III
    7#
    发表于 2022-11-11 12:37 | 只看该作者
    不错不错，有味有料，尝鲜尝鲜

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    E02577

    该用户从未签到
    8#
    发表于 2022-11-29 16:56 | 只看该作者
    12311111111111111111  `. t9 \: O6 }  J' p

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    fiyu198028

    该用户从未签到
    9#
    发表于 2023-10-13 11:10 | 只看该作者
    学习一下，参考一下

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