一种新的元器件可靠性评估方法———结构分析（CA）

一种新的元器件可靠性评估方法———结构分析（CA）0 G. w& T$ s0 {( p2 K2 Z. D
A New Method for Reliability Evaluation of Device———Construction Analysis (CA)
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$ }5 O/ k9 [# {; T3 @% a摘要：结构分析（CA：construction analysis ）是一种通过对元器件的结构进行一系列深入细致的分析来确定元器件的结构是否存在潜在的失效机制的方法。通过CA可以评估制造商的设计能力和工艺水平，也可以确认元器件的结构是否能够满足特定的应用环境要求。CA对应用于高可靠领域内的元器件的质量保证尤为重要。