找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 882|回复: 4
打印 上一主题 下一主题

关于EUT不接地静电测试问题

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
发表于 2019-4-2 11:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
2 R" b' h) Y+ X+ O5 u5 l
请教大神,
* y, X6 M8 w1 D: v. i9 s产品没有接地进行ESD测试,接触放电(COM口和USB口)  测试COM口时每打一枪后(共10枪),接地线在COM口接一下拿开;测试USB时(USB口很小)每打一枪后接地线在COM口接一下拿开,测试fail;测试USB时每打一枪后接地线在USB口接一下拿开,测试PASS;请问为何会出现这种情况,那产品直接接地打ESD和产品不接地(用接地线放电)测试结果会有很大差异性吗?
: g' g% z$ g3 L, V9 h7 e# e8 C1 l. }非常感谢!

该用户从未签到

2#
发表于 2019-4-2 22:20 | 只看该作者
3 ~& `- c" w2 [' ?

& ~- p2 t+ ?& D* ]与楼主类似的问题并不少见,楼主最好在提供一些详细的信息,比如让端口地是怎么布置的等。
0 X2 O# H6 h' [" V" |单凭楼主现在描述,愚见问题大概率可能是以下两个问题引起的:( D% P  |8 ?% _& T8 g
1.测试手法有问题
1 `6 x. c* Q2 E; t! c  S' }对于非接地设备,很多测试人员都知道打完静电后要对设备上残留电荷进行泄放。但是,有一种常见错误做法:用一根连接到接地参考平面的导线泄放电荷。 这种做法在不少EMC测试机构的实验室也常能看到。 这做法可能会导致二次放电伤害。
6 q$ k/ H: V) \+ Y0 {* H
, P9 B& B7 S; [) n! X2. 接口2 l+ l# `3 @0 [: ?4 p3 K
COM 和USB 口的地的布置的差异导致泄放路径不同。$ H  F7 _/ e0 W- I; P
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-11-23 02:47 , Processed in 0.140625 second(s), 23 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表