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PCB DK/DF 材料特性提取软件5 N3 E) M) f* v) J) j) u
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6 \; E& g3 I+ ]8 l; Q' s, Q' ^
独立开发PCB DK/DF 材料特效提取软件，满足市场需求: [6 e+ c8 t. r6 @
, E2 p3 C( p& [9 I1 Z8 Y
目前市场上都是几家大公司有这套算法工具，并且工具只是其中一个很小的模块，售价相对昂贵，, q9 Q' H3 b- E) v5 Q
4 |; F! g8 E3 L
! r0 ~2 S( Y6 Y8 N4 R- J本人开发的算法软件，模拟PLTS中的PCB Material Characterization模块，操作方便，简单 : ?4 R% W X/ f5 ]! w+ J& f, r
b$ r9 f# t$ _1 w" M9 N2 U支持双线和单线导入，导入对应的S4P/S2P文件即可得到dk,DF值，并且可以计算表面粗糙度
3 s9 ^4 X/ o, y$ [2 g5 M& ?7 o. l }9 u8 @2 W# j* U* S$ B/ f: B
软件界面如下
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# z0 M2 B! I5 w8 J3 v2 ~! V- A' _; O: d9 Z1 ?
+ ?' g0 l, u7 \/ f+ Y; _Intel DeltaL4.0提出了dk,df提取的重要性，目前DeltaL4.0的算法已经开源，Intel也提供了Matlab算法源码(可通过Intel获取)，但是dk,df并未开源，网上也找不到相关算法: v4 X$ L1 i( C9 G
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6 Y. C( @/ ~; l2 r( W# e$ ^印刷电路板（pcb）的介电基片和导体表面粗糙度（SR）特性在高速互连设计中非常重要。直接从各自制造商的数据表中使用这些材料属性值进行模拟通常会导致测量和模拟之间的不匹配。
% N$ R& h# B' C5 D1 Y; P( h9 D, c! S1 ~0 I# |3 S: l) p) R
引入了新的PCB材料特性来解决这个问题。它采用二维带状线模拟器，结合宽带介电模型和表面粗糙度（SR）模型，对模型参数进行调整，直到模拟和测量之间达到良好的相关性。然后提取材料属性值（DK， DF， SR）。介质模型采用Svensson-Djordjevic模型。表面粗糙度模型是Huray模型和Cannonball模型。用户还可以指定导体表面是光滑的，以便跳过表面粗糙度估计。
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1 j6 d) y3 c5 a$ L/ K' U; K当然也可提供sdk，为 Dk/Df 测量提供 API，供第三方软件开发软件调用，
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“来自电巢APP”
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发表于 2025-12-1 09:03
