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UCC5350高侧PWM驱动求助

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  • TA的每日心情
    开心
    2019-11-28 15:03
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    [LV.1]初来乍到

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    1#
     楼主| 发表于 2025-4-2 09:33 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    本帖最后由 流誓星空 于 2025-4-2 09:41 编辑
    ; Y( n% [: t5 }' I0 r' W
    ; ]7 Q2 N2 C9 f# y
    大家好,我设计了如下图所示的一个电路,用于PWM驱动28V高侧开关。在输出端对地加了10uF电容滤波。
    电路简介:UCC14131是隔离电源芯片,为驱动器提供次级侧电源。驱动器UCC5350SBD对MOS管高侧开关。
    输入PWM频率:100KHz,占空比0~100%。
    目前遇到的问题是,MOS管输出端(S极)对地放置10uF电容滤波时,会导致输入端(D极)电压纹波增大,在低占空比的情况下,输入端的电压会出现明显的过冲(振铃),最高能到80多V。如下图所示。
    开始我们在输入端加对地电容,过冲有所缓解,在25~29V之间波动,但低占空比的情况下也会产生50V左右的明显的30-40ns的过冲,。如下面两幅图所示:

    4 p& D/ t5 |6 f8 K
    后来,通过示波器测量发现,这一过冲与MOS管关断有关,于是我们考虑增大驱动器VOUL端的R2,虽然有效果,R2从3.3欧增大到300欧时,输入端过冲下降到了33V,但同时也使输出的功率增加,大约0.5%占空比对应50%满功率输出(原先为大约10%占空比对应50%满功率输出),这个也是我们不想看到的。

    7 @: Q+ @5 n4 H1 k2 }) U
    麻烦同学们帮忙分析一下原因吧,看看有什么好的解决办法?
    ! i8 {$ A% u( q1 ?, T
  • TA的每日心情

    2025-7-22 15:01
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    [LV.3]偶尔看看II

    2#
    发表于 2025-4-14 11:41 | 只看该作者
    1、纹波过大是因为mos的寄生电感引起,mos突然关断会导致di/dt增大,电感电流不能突变导致寄生参数发生了阻尼振荡
    ' p( w. c5 V# P( r$ ]0 J3 k2、加输出电容实际上是增大了负载,mos突然导通,输出电容对地实际上可视为短路,充电电流很大,此时关断mos,di/dt会更大
    ! x, D! ]8 N8 s3、增加输入电容,该电容作为bulk电容起了稳压作用,或者说增大了V28电源带负载的能力,因此能减轻振铃问题; v" q5 `+ s8 c% U/ Z* R
    4、更改R2实际上是减缓了mos的关断斜率,此时di/dt变小,因此振铃程度降低
    . c1 a5 X% o5 \. _- b5、低占空比和高占空比的存在区别,尤其是低占空比振铃更大,个人猜测是因为输出电容没充满电,电容还在充电因此mos电流还是很大,高占空比时电容已经充了很多电,此时mos电流比低占空比更小,振铃更小
    4 ^! x5 y1 G- T
    . ~4 Y, M8 s6 A* D( c4 E/ s. F主因:mos寄生电感的存在和V28带负载能力偏弱
    4 _: t9 ]! `1 i/ F; F解决方法:1、增大输入电容;2、针对振铃的频率加对应电容

    点评

    感谢大佬  详情 回复 发表于 2025-4-20 22:21

    该用户从未签到

    3#
    发表于 2025-4-14 13:15 | 只看该作者
    这个图是参考的是自己想的,这么搞隔离无意义。ds电压超标问题先放一边吧

    点评

    龙哥,细说,“隔离无意义”是因为共地吗  详情 回复 发表于 2025-4-14 14:33
  • TA的每日心情

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    [LV.3]偶尔看看II

    4#
    发表于 2025-4-14 14:33 | 只看该作者
    huo_xing 发表于 2025-4-14 13:15, |+ N2 _, S5 u  t( w
    这个图是参考的是自己想的,这么搞隔离无意义。ds电压超标问题先放一边吧

    5 E6 I4 K+ o. p2 H龙哥,细说,“隔离无意义”是因为共地吗9 D+ H6 p6 U0 X5 C0 F3 ~

    点评

    VDD和VCC2搭一起,VEE和VEE2搭一起,然后把功率端28V的gnd也并进来。分析下mos导通和关闭时mos的ds是什么情况?导通12V隔离电源的左右两侧还是12V吗?  详情 回复 发表于 2025-4-14 15:09

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2025-4-14 15:09 | 只看该作者
    Dc2024101522a 发表于 2025-4-14 14:330 }  ^# F* n7 z+ x
    龙哥,细说,“隔离无意义”是因为共地吗
    * _1 ?" l. c9 F6 G& n1 q
    VDD和VCC2搭一起,VEE和VEE2搭一起,然后把功率端28V的gnd也并进来。分析下mos导通和关闭时mos的ds是什么情况?导通12V隔离电源的左右两侧还是12V吗?
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    [LV.1]初来乍到

    6#
     楼主| 发表于 2025-4-20 22:21 | 只看该作者
    Dc2024101522a 发表于 2025-4-14 11:41; g3 |5 {. w( }: M5 l' z
    1、纹波过大是因为mos的寄生电感引起,mos突然关断会导致di/dt增大,电感电流不能突变导致寄生参数发生了阻 ...
    $ k  F9 O9 l" D* @/ G$ @
    感谢大佬
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    还有一点就是隔离设计不合理,隔离是将前后网络通过物理手段隔开,包括地平面和电源,现在你的供电是分开的,但是隔离芯片的前后级的地还是一起的,这样是起不到隔离作用 还有就是,后面有测电流吗,高低占空比的区  详情 回复 发表于 2025-4-21 15:27
  • TA的每日心情

    2025-7-22 15:01
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    [LV.3]偶尔看看II

    7#
    发表于 2025-4-21 15:27 | 只看该作者
    流誓星空 发表于 2025-4-20 22:21
    : {, e) c! J/ C/ p2 p3 G3 M感谢大佬

    # w9 S$ m& [  b- w0 d: Z! w还有一点就是隔离设计不合理,隔离是将前后网络通过物理手段隔开,包括地平面和电源,现在你的供电是分开的,但是隔离芯片的前后级的地还是一起的,这样是起不到隔离作用' s  p2 c5 Q+ Q: v3 g! ^
    还有就是,后面有测电流吗,高低占空比的区别也是我的猜测,没有把握,所以我想看看电流图5 h3 A! @" t% \+ k. D6 ~7 E

    ) b6 l5 \0 Z1 l0 S$ t5 l7 _% l  Z

    点评

    抱歉,最近比较忙暂时不会测试了。只能把之前的测试情况大致跟你说一下。后续有机会的话,还可以继续测试。1. 放置1uF电容条件下,28V输出电流与占空比的关系:随着占空比从0.1%开始增加,28V输出电流迅速增加,但占  详情 回复 发表于 2025-4-21 19:09
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    2019-11-28 15:03
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    8#
     楼主| 发表于 2025-4-21 19:09 | 只看该作者
    本帖最后由 流誓星空 于 2025-4-21 19:11 编辑
    ! W+ v- g8 F( }' c! p  k4 b8 \" H
    Dc2024101522a 发表于 2025-4-21 15:27
    % }- _. z8 a  _! J' f6 b  K还有一点就是隔离设计不合理,隔离是将前后网络通过物理手段隔开,包括地平面和电源,现在你的供电是分开 ...
    6 j3 j% Q2 i( J, N4 R% {9 R
    抱歉,最近比较忙暂时不会测试了。只能把之前的测试情况大致跟你说一下。后续有机会的话,还可以继续测试。1. 放置1uF电容条件下,28V输出电流与占空比的关系:随着占空比从0.1%开始增加,28V输出电流迅速增加,但占空比从5%增加到10%过程中,28V输出电流会出现一个明显的下降,可能是发生了某种谐振(具体原因我也不清楚)。  V% s: m; [) x! C5 Z5 M
    2.放置1uF电容条件下,大功率负载(10.5欧)时,占空比达到1%后,MOS管就开始发热、冒烟,说明MOS管出了问题。8 K( y4 x5 s" c& Z. \% q
    3.在测试中发现,0.1uF1uF10uF均能引起该振荡现象。
      ?. b% m. V) {6 o  q3 {( U4.原先OUTH端串联的电阻为10欧,将OUTH端的电阻增大至300欧、1K欧,可以在一定程度上缓解该现象(过冲只在10%~20%占空比下比较明显,且有一定的下降),但无法根除。
    8 U% ?' o- ^4 x+ @+ H4 @5.原先OUTL端串联的电阻为3.3欧,将其增大至300欧,会导致下降时间过长,2%的占空比输出功率就接近满功率了。
    3 P6 L6 s* [9 M1 B- d8 `6.所用芯片为隔离电源芯片,但测试没有用差分探头,所以测量过程中会使被测点与GND导通(虽然是经过兆欧级别的电阻导通),导致测试结果存在不准的可能,可以考虑使用差分探头测量。
    # x1 A" r+ |; [4 V+ H7.该电路输出端有电容的情况下,产生的干扰已经能影响到FPGA输出端了(后面我用FPGA模拟信号发生器)。使用FPGAPWM频率1K,占空比10%驱动,输出端电容0.1uF,负载10.5欧,PWM输出后,听到刺耳的鸣响,音量不大。测量PWM输入端,有一个10V左右的过冲,说明这个EMC都通过245干扰到FPGA源端了,过了几秒,应该是FPGA管脚被10V的干扰烧坏了。给FPGA板卡供电的5V电流从平时的0.04A增大到0.12A。后面试了一下,应该只是对应的FPGA管脚烧坏了,别的还能用。
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    我个人的看法是,这种电路的干扰很大,最好不要采用(或者可以试试在28V输入端加理想二极管电路)。我看TI出了很多高侧开关芯片,PWM最高只到2-3KHz,上升和下降时间都是几十us,估计是他们也知道上升下降速度过快,会导致严重的EMI问题吧。
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