EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
本帖最后由 angern 于 2022-11-25 09:36 编辑
5 U* H! w8 {6 {) Z/ ?* A7 u
1 o' f# e& _ R; m" q7 @7 ^光电子器件是利用光电转换效应制成的各种功能器件，能够实现光信号的产生、信号调制、探测、连接、能量分合、能量增减、信号放大、光电转换、电光转换等功能。主要包括这两类：
3 ~3 b5 y+ O: b P- b光纤通讯器件光电子器件是利用光电转换效应制成的各种功能器件，能够实现光信号的产生、信号调制、探测、连接、能量分合、能量增减、信号放大、光电转换、电光转换等功能。主要包括这两类：
6 t2 W6 i" W. W4 }- z) `光纤通讯器件如 LED灯具，或其它发光照明灯具、发光装饰灯具。 综上可以理解为， 产品需要电转、光转电， 或其它光电相关功能，即属于光电器件。 光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，各行业对光电子元器件的检测是一项必不可少的基础工作。而需要做可靠性检测的产品种类很多，每个行业的检测需求也不同，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。 那么光电子元器件大多数情况下，都要做哪些可靠性检测项目？我们一起来看看吧。
" t3 j$ x; c5 F+ u* ^1 t! N o1、光电子元器件物理特性测试项目
) v% {6 S# Z4 V Y; x* }1 V密封性：确定具有内空腔的光电子器件封装的气密性。 可燃性：确定光电子器件所使用材料的可燃性。 可焊性：确定需要焊接的光电子器件引线（直径小于30175mm的引线，以及截面积相当的扁平引线）之可焊性。 引线键合强度：确定光电子器件采用低温焊、热压焊、超声焊等技术的引线键合强度。
! V8 P% Y6 b$ b7 L2、光电子元器件机械完整性试验项目) E5 s) Q0 o. \
& U4 `/ c! v* Q3 e
产品运输、使用中难免磕碰，即使被安装在设备上了，也极可能遇到风扇引起的振动。 机械冲击和振动就是针对产品可能碰到的各种不佳情况，提前做好预防与筛选工作。
" M5 s( ]( U. _0 g3 n/ g1、机械冲击：确定光电子器件能否适用在需经受中等严酷程度冲击的电子设备中。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。 2、变频振动：确定在规范频率范围内，振动对光电子器件各部件的影响。 3、热冲击：确定光电子器件，在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 4、插拔耐久性：确定光电子器件光纤连接器的插入和拔出，光功率、损耗和反射等参数是否满足重复性要求。 5、存储试验：确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。 6、温度循环：确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。 7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。 8、高温寿命：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。
9 \, M/ o, R) Y$ I4 B7 _
3 C2 {* D& N( W) ]3、光电子元器件加速老化试验1 C; U2 i. t) Z! @: q
" f5 m1 D, P" d) u h. n在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。
$ p r1 G9 ]8 F4 J! V 1、高温加速老化：加速老化过程中的最基本环境应力是高温。在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。 2、恒温试验：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。 3、变温试验：变化温度的高温加速老化试验，是定期按顺序逐步升高温度（如60℃、85℃和100℃）。 4、温度循环：除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外，温度循环还可对管电子器件进行加速老化。 温度循环的加速老化，目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化，而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。
" N1 k- {# p9 \, W
& c0 E. X5 ~0 u E, e因此，光器件的可靠性其实是一个很复杂的系统工程。为提高光电子元器件的使用可靠性，须在元器件研发阶段、量产及出厂阶段做好相关可靠性测试、筛选等工作，由研发、生产、采购、质保、体系管理等多方面的参与，才能为提高电子产品可靠性提供坚实的保障。 / ~5 B6 F) E. z+ ~- x% e: c2 I
; X& p3 e& Y D6 G3 |. @8 C
| 
/1 
发表于 2022-11-25 09:35
收藏
淘帖
支持！
反对！
