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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发供应链讨论 › 失效分析&可靠性 › 微波器件失效分析典型案例
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微波器件失效分析典型案例

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wewwqqee

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发表于 2021-12-27 14:32 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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Houseefe

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2#
发表于 2021-12-27 16:46 | 只看该作者
分析说明其一：微波二极管芯片边缘崩损，外围场限环受损

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