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mos管选取封装的准则

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发表于 2021-11-23 13:27 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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一、温升和热设计是选取封装最基本的要求
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; ?' E, x2 W& j6 I' G$ C  不同的封装尺寸具有不同的热阻和耗散功率,除了考虑系统的散热条件和环境温度,如是否有风冷、散热器的形状和大小限制、环境是否封闭等因素,基本原则就是在保证功率mos管的温升和系统效率的前提下,选取参数和封装更通用的功率MOS管。
. }& Y* @7 x! E: D' O( ?- U0 S+ N! \: @* |
  二、系统的尺寸限制7 {# U8 R( C% d  X- v- D

: l/ d% R( \/ i  有些电子系统受制于PCB的尺寸和内部的高度,如通信系统的模块电源由于高度的限制通常采用DFN5*6、DFN3*3的封装;在有些ACDC的电源中,使用超薄设计或由于外壳的限制,装配时TO220封装的功率MOS管脚直接插到根部,高度的限制不能使用TO247的封装。有些超薄设计直接将器件管脚折弯平放,这种设计生产工序会变复杂。
6 K7 ?% `% z2 ^1 y8 [  e# r; K, `0 @4 n) J- L! x" Z% Y
  三、公司的生产工艺- }' f1 B0 L: z! o! x

* m6 l  o6 d6 x+ e8 ~$ y  TO220有二种封装:裸露金属的封装和全塑封装,裸露金属的封装热阻小,散热能力强,但在生产过程中,需要加绝缘坠,生产工艺复杂成本高,而全塑封装热阻大,散热能力弱,但生产工艺简单。
- t. I4 w: K  w! w0 z( M$ X
$ @  _4 C$ w  i# y+ \0 n9 a  为了减小锁螺丝的人工工序,近几年一些电子系统采用夹子将功率MOS管夹在散热片中,这样就出现了将传统的TO220上部带孔的部分去除的新的封装形式,同时也减小的器件的高度。
: y# `2 E% \) S7 y5 e( U3 Q7 X; s/ t1 Q8 J, T+ t) I0 Z# @
  四、成本控制
1 f5 ?' U7 Q) D  m& ~4 N9 V* L2 L; g2 b, z8 b$ e
  在台式机主板、板卡等一些对成本极其敏感的应用中,通常采用DPAK封装的功率MOS管,因为这种封装的成本低。5 M; G1 D+ T0 R( n- C+ v

& g$ ^8 }+ A" S  因此在选择功率MOS管的封装时,要结合自己公司的风格和产品的特点,综合考虑上面因素。
) m: ~7 h& w9 M( i& g6 H
2 |2 g$ u6 ^: o% a4 ~  q- W3 T  五、选取耐压BVDSS
( S" D4 ?0 g% Q
# {. R! k, D" h, \/ K  在大多数情况下,因为设计的电子系统输入电压是相对固定的,公司选取特定的供应商的一些料号,产品额定电压也是固定的。8 v9 A- v+ g, L" u3 V0 v8 x
, q# J4 C+ X! J* a4 g6 o7 D: J
  数据表中功率MOS管的击穿电压BVDSS有确定的测试条件,在不同的条件下具有不同的值,而且BVDSS具有正温度系数,在实际的应用中要结合这些因素综合考虑。
8 b. H/ V# y# X) o4 `$ `
, T: F% T0 e9 v& u0 @6 p5 t$ {  很多资料和文献中经常提到:如果系统中功率MOS管的VDS的最高尖峰电压如果大于BVDSS,即便这个尖峰脉冲电压的持续只有几个或几十个ns,功率MOS管也会进入雪崩从而发生损坏。
$ q- q+ h! i' f& ^. ^/ x- [6 g1 n1 _! c6 p! S
  不同于三极管和IGBT,功率MOS管具有抗雪崩的能力,而且很多大的半导体公司功率MOS管的雪崩能量在生产线上是全检的、100%检测,也就是在数据中这是一个可以保证的测量值,雪崩电压通常发生在1.2~1.3倍的BVDSS,而且持续的时间通常都是μs、甚至ms级,那么持续只有几个或几十个ns、远低于雪崩电压的尖峰脉冲电压是不会对功率MOS管产生损坏的。
  a3 ^& @9 ^1 |# H" B5 R+ \& C+ `, i1 L8 t3 e* m
  六、由驱动电压选取VTH5 ]* R/ P' n- o  ~; X" y& }1 W

5 ~/ K, u8 p" g2 ]) b  不同电子系统的功率MOS管选取的驱动电压并不相同,AC/DC电源通常使用12V的驱动电压,笔记本的主板DC/DC变换器使用5V的驱动电压,因此要根据系统的驱动电压选取不同阈值电压VTH的功率MOS管。
# O1 i" O- r) x5 x: R# D( }( K- k" k: g2 C' h6 B
  数据表中功率MOS管的阈值电压VTH也有确定的测试条件,在不同的条件下具有不同的值,VTH具有负温度系数。不同的驱动电压VGS对应着不同的导通电阻,在实际的应用中要考虑温度的变化,既要保证功率MOS管完全开通,同时又要保证在关断的过程中合在G极上的尖峰脉冲不会发生误触发产生直通或短路。
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2#
发表于 2021-11-23 13:36 | 只看该作者
不同电子系统的功率MOS管选取的驱动电压并不相同

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3#
发表于 2021-11-23 13:37 | 只看该作者
数据表中功率MOS管的阈值电压VTH也有确定的测试条件
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