( f B1 D0 X% J$ l测试把已经制造完毕的半导体元器件进行结构和电气功能的确认,测试的目的是排除电子功能差的芯片,以保证其各项性能符合系统的要求。测试也可以被称为“终段测试”,与晶圆探针测试(封装前测试)不同。先进封装优势先进封装提高加工效率,提高设计效率,减少设计成本。先进封装主要包括倒装类(FlipChip,Bumping),晶圆级封装(WLCSP,FOWLP,PLP),2.5D封装(Interposer)和3D封装(TSV)等。以晶圆级封装为例,产品生产以圆片形式批量生产,可以利用现有的晶圆制备设备,封装设计可以与芯片设计一次进行。这将缩短设计和生产周期,降低成本。先进封装提高封装效率,降低产品成本。随着后摩尔定律时代的到来,传统封装已经不再能满足需求。传统封装的封装效率(裸芯面积/基板面积)较低,存在很大改良的空间。芯片制程受限的情况下,改进封装便是另一条出路。举例来说,QFP封装效率最高为30%,那么70%的面积将被浪费。DIP、BGA浪费的面积会更多。先进封装以更高效率、更低成本、更好性能为驱动。( p T, R9 @( G! |8 O