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如何对高速数据接口进行可靠的ESD保护

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发表于 2020-4-21 09:56 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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由于电子应用要求的不断发展,现代的集成电路需要更高的工作频率和更小的封装。因此,现在的电子系统要承受更大的ESD冲击,ESD保护问题变得越来越重要。一般而言,设计者都要求器件的尺寸尽可能最小,但不能影响数字和模拟信号的质量。这两点要求必须与最高等级的ESD保护结合起来。: @6 p* t  ]3 ^4 L
" T# y( M9 l# D
        英飞凌的ESD8V0L系列ESD保护二极管器件的设计灵活,具有尺寸小、电容值小等特点。可以使用这些器件保护高速数据接口,如USB2.0、10/100M以太网、火线(Firewire)、视频、串行/并行以及LAN/WAN接口。这些ESD保护器件的尺寸很小,而且它们符合IEC61000标准(表1),具有高达25kV接触放电的ESD保护能力。' ~7 m9 S. ]" C3 O7 K0 Y

; f  V( v: d8 l        这些ESD保护器件采用的TSLP封装的外形极其小巧。与SC79相比,TSLP-2-7封装尺寸小,高度低(最大只有0.4mm,其已成为市场的基准)。特别是对于快速发展的移动电话和消费/IT市场(ESD8V0L系列专门针对该市场开发)而言,对高度降低的需求极其重要。因此,使用TSLP封装可以节省空间并提高设计灵活性。' E% i1 K5 k, a
0 M; O$ L) d1 S) ]/ W9 H
高速能力/ f4 a) ]! a9 ?

' j0 ~2 i1 d' o& o% x9 D5 R" S        对于高频数据传输的数据完整性而言,ESD二极管的电容值是至关重要的特性。图4说明了高速信号线(如USB2.0)怎样轻松地被保护。为了对USB2.0集线器和USB2.0器件进行可靠地ESD保护,必须在两根信号线上都实现ESD保护。
0 t# y2 k, S( f* ^1 w4 Z- V" c& Q2 z2 w9 Z
        为了通过眼图比较不同ESD二极管电容的效果,根据USB2.0规范对USB2.0测试装置进行评估。采用USB2.0 6号测试模板来展示完整的USB2.0传输链路效果,传输链路从USB2.0驱动器的输出端(发送器输出管脚)开始。该链路装置包含TX和RX侧(每侧为 5pF)的PCB电容效应、两个ESD保护电路(集线器和器件上的ESD二极管)、USB电缆(5米长,损耗符合规范)和接收器的输入电容(5pF)。
2 I% ]( I7 g. l5 c- k3 l3 I" D
/ a. L" Y8 z' c( ^% Y        如图4所示,USB2.0传输链路的差分数据线应连接至ESD8V0L2B-03L的管脚1和管脚2上。二极管的管脚3接地。由每个二极管产生的线路电容都是4pF,差分线间的电容为2pF。( t5 p7 z& E# y+ L
5 J9 A, s7 s" P" S$ @
        可通过对每条线路使用一个ESD8V0L2B-03L来进一步降低线路电容。将ESD8V0L2B-03L二极管的管脚1(或管脚2)与USB数据线相连,另一个管脚接地,保护二极管的电容值被降低至2pF。采取这种方式时,管脚3一直保持浮接(未连接),保护电路如图5所示。第二条USB数据线采用同样方式进行保护。0 q" T# i: k9 Y* k6 M
: r. D* ]9 p6 O0 I( q
        两种配置都可以卸掉超过IEC61000-4-2标准的15kV接触放电脉冲。如果需要更高的防护能力,建议采用图5所示的英飞凌ESD8V0L1B-02LRH二极管配置。该配置可实现高达25kV接触放电的保护等级。
替代多层变阻器5 R: U* h; Z. v1 b4 \; N2 k
! O( C& I. e5 s2 t+ k% z3 n
         多层变阻器不具备技术驱动应用中安全所需的高性能和高品质。使用变阻器的设计者必须处理性能下降的影响以及高的、不精确的钳位电压,这会导致IC损坏和电路故障的风险。与ESD保护二极管相比,变阻器的另一个主要劣势是高泄漏电流,这在移动通信应用中是不能接受的。此外,在生产过程中,对采用TSLP封装的ESD保护二极管的操作是很容易的,而多层变阻器经常会面临焊接和良品率下降的问题。* _% ]% C) v, e5 A; R: S# y  o

该用户从未签到

2#
发表于 2020-4-21 10:34 | 只看该作者
这些ESD保护器件的尺寸很小,而且它们符合IEC61000标准(表1),具有高达25kV接触放电的ESD保护能力。
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