|
|
EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑 5 n& E* H9 Z- u
$ B5 u2 g% y! i+ |& v) z
目录
6 Z4 w# t5 p/ k1、概述' F, [. I' P1 |1 l) v* A, f6 ]
2、过去的老化系统% p3 q# L N& u/ _% R0 g
3、为什么要在老化时进行测试$ J5 m" P2 z6 a5 a, ~( k
4、在老化中进行测试的好处
% u& T, f- j5 H$ N. V% s5、老化测试系统类型
o1 F9 \& H7 ]8 \, U; L/ m: j6、逻辑器件老化测试! i+ x+ p& b1 k7 h
7、内存老化) J( Y. B: Q; T8 s& P2 u6 N6 Z
8、老化测试系统性能' N, i! _, K J# Y; [
9、结束语
; ^2 l3 i8 h) |; B& O9 o
' n4 m! c6 n2 m$ L. R* n! `9 ^
{/ `3 Q' h+ Z8 p3 R7 m6 U) t/ M8 S |8 i. n; x
|
评分
-
查看全部评分
|
[复制链接]
/1 
发表于 2020-9-28 08:34
收藏
淘帖
支持！
反对！
发表于 2020-9-28 10:12
发表于 2020-9-28 09:40
