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我使用该芯片的ADC0、ADC1采集2mV的小信号，PGA均设定为128倍。
- U0 K7 C2 V; E ? U0 }) AADC0接AIN0正AIN3负的差分；ADC1接AIN1正AIN2负的差分。
: n& w% ]- l9 ]# p! I一共焊接了六台样机，一开始的两周，测量功能完全正常：3 u! r- G8 Y# D
ADC0、ADC1的采样结果均是0.002516V
" }6 K& x8 z, k6 e7 [8 ^直到50℃温度测试的第15天，发现ADC0的采样结果完全错误，采样16次，结果都是4*10E-7这样接近0的值(每个值都不一样)。8 l5 A" G# T: X# ~
为了排除电路原因引起的测量不准，我把原ADC1配置到ADC0那一路，也就是：ADC1接AIN0正AIN3负的差分；ADC0接AIN1正AIN2负的差分。结果，ADC0仍然是错的，ADC1仍然是对的。 所以这个故障和待测电路无关。) w1 N6 V" Z! ^7 @. ]/ {4 h
进一步调试，我发现把ADC0的PGA设定为1，也就是关掉PGA---测量结果就是准确的了。
6 o, v2 @0 M; @5 z. |! Q( r1 a用官方代码ADuCM360_361_Code_Examples_Function_Libraries\ADuCM360361 code examples and function libraries\examples\ADC_DMA 重复以上，现象相同。所以也不是代码引起的故障。* m6 i4 E9 P5 y+ L5 ?: [
, @5 \6 Z1 Y# g/ U' ~* A! O综上，我得出结论： ADC0的那一路PGA坏掉，ADC1的那一路PGA完好。
2 Y" _9 i8 i: V: s! m7 B% ?2 r' l另外，芯片是直接国外进口的，应该不存在劣质品的可能。
, \! w; _) [4 b3 \, }7 R$ w6 u- |( F# I' J) K# i# W' G: s
那么问题来了：
% O6 a2 |& n* b' b1.什么样的恶劣条件会导致ADuCM360的PGA坏掉，而其他功能诸如串口、IO完全正常？* x8 n8 _, R3 k! S1 m1 d
2.单片机电路的哪一部分，具体是哪一个引脚的外围电路异常，会引起PGA坏掉？
1 ~" C7 K$ \+ D s) ~% y3.怎么样检测PGA坏掉，能否有方法百分之百的得出PGA是坏的这一结论？
0 {5 S _1 B$ C# @$ w! f# w1 W望ADI的技术人员解答，谢谢！
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发表于 2020-8-28 15:01
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