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本帖最后由 流誓星空 于 2025-4-21 19:11 编辑 - e* D# Q/ k5 ^( x3 [+ iDc2024101522a 发表于 2025-4-21 15:27: D8 w9 z! z& `6 S- K- D9 [ 抱歉,最近比较忙暂时不会测试了。只能把之前的测试情况大致跟你说一下。后续有机会的话,还可以继续测试。1. 放置1uF电容条件下,28V输出电流与占空比的关系:随着占空比从0.1%开始增加,28V输出电流迅速增加,但占空比从5%增加到10%过程中,28V输出电流会出现一个明显的下降,可能是发生了某种谐振(具体原因我也不清楚)。$ R/ Y3 p/ k6 h1 R 2.放置1uF电容条件下,大功率负载(10.5欧)时,占空比达到1%后,MOS管就开始发热、冒烟,说明MOS管出了问题。 3.在测试中发现,0.1uF、1uF、10uF均能引起该振荡现象。 4.原先OUTH端串联的电阻为10欧,将OUTH端的电阻增大至300欧、1K欧,可以在一定程度上缓解该现象(过冲只在10%~20%占空比下比较明显,且有一定的下降),但无法根除。 5.原先OUTL端串联的电阻为3.3欧,将其增大至300欧,会导致下降时间过长,2%的占空比输出功率就接近满功率了。 6.所用芯片为隔离电源芯片,但测试没有用差分探头,所以测量过程中会使被测点与GND导通(虽然是经过兆欧级别的电阻导通),导致测试结果存在不准的可能,可以考虑使用差分探头测量。 7.该电路输出端有电容的情况下,产生的干扰已经能影响到FPGA输出端了(后面我用FPGA模拟信号发生器)。使用FPGA,PWM频率1K,占空比10%驱动,输出端电容0.1uF,负载10.5欧,PWM输出后,听到刺耳的鸣响,音量不大。测量PWM输入端,有一个10V左右的过冲,说明这个EMC都通过245干扰到FPGA源端了,过了几秒,应该是FPGA管脚被10V的干扰烧坏了。给FPGA板卡供电的5V电流从平时的0.04A增大到0.12A。后面试了一下,应该只是对应的FPGA管脚烧坏了,别的还能用。 & T; s4 X6 d5 k) O5 h$ {1 y% o9 _ 我个人的看法是,这种电路的干扰很大,最好不要采用(或者可以试试在28V输入端加理想二极管电路)。我看TI出了很多高侧开关芯片,PWM最高只到2-3KHz,上升和下降时间都是几十us,估计是他们也知道上升下降速度过快,会导致严重的EMI问题吧。. d" R( |: f, K |
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还有一点就是隔离设计不合理,隔离是将前后网络通过物理手段隔开,包括地平面和电源,现在你的供电是分开的,但是隔离芯片的前后级的地还是一起的,这样是起不到隔离作用 还有就是,后面有测电流吗,高低占空比的区别也是我的猜测,没有把握,所以我想看看电流图 ![]() 6 X* a1 V) f) E3 u$ }. T& G& Y! E( P( R! ?/ k |
Dc2024101522a 发表于 2025-4-14 11:41 感谢大佬 ![]() |
Dc2024101522a 发表于 2025-4-14 14:33 VDD和VCC2搭一起,VEE和VEE2搭一起,然后把功率端28V的gnd也并进来。分析下mos导通和关闭时mos的ds是什么情况?导通12V隔离电源的左右两侧还是12V吗?5 {! z4 X7 |- ^ |
huo_xing 发表于 2025-4-14 13:15+ }4 m7 T9 i' F! \$ G/ w/ k! [; L* \ 龙哥,细说,“隔离无意义”是因为共地吗2 J. D0 ]; k/ B7 W& a/ v |
| 这个图是参考的是自己想的,这么搞隔离无意义。ds电压超标问题先放一边吧 |
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1、纹波过大是因为mos的寄生电感引起,mos突然关断会导致di/dt增大,电感电流不能突变导致寄生参数发生了阻尼振荡# V# H) W9 J# a3 H ~+ ], l 2、加输出电容实际上是增大了负载,mos突然导通,输出电容对地实际上可视为短路,充电电流很大,此时关断mos,di/dt会更大 3、增加输入电容,该电容作为bulk电容起了稳压作用,或者说增大了V28电源带负载的能力,因此能减轻振铃问题 4、更改R2实际上是减缓了mos的关断斜率,此时di/dt变小,因此振铃程度降低, G2 w( D! g% y, B/ S2 t' d( H 5、低占空比和高占空比的存在区别,尤其是低占空比振铃更大,个人猜测是因为输出电容没充满电,电容还在充电因此mos电流还是很大,高占空比时电容已经充了很多电,此时mos电流比低占空比更小,振铃更小: H \! e( Q6 u X! E3 G$ _3 U 主因:mos寄生电感的存在和V28带负载能力偏弱 解决方法:1、增大输入电容;2、针对振铃的频率加对应电容 |
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