EDA365电子论坛网

标题: 半导体封装测试制程介绍 [打印本页]

作者: geronimo123    时间: 2022-6-15 13:40
标题: 半导体封装测试制程介绍
0 \. L% w8 d. a, u" h) ^7 w5 n; H

- r/ L  P7 H0 }
% y( L: P3 g0 L2 I/ B5 \4 H
, z" q; U8 w7 X2 ?) W$ Y) i  U
& S$ B9 h8 F. u0 p

0 N2 H1 q8 H. z' t6 l' d
; q* h4 U+ |' n; {" m" s

: L2 I" s  S* m' C, h4 C5 s1 ~

) z# x! Q; h6 B" b& N0 M
* W! ~% }( r% q2 `
8 y( y1 h& N+ v( W% `, h& \

9 N0 m) j" v1 s! |

0 O* Z* \4 w3 ^. N

作者: nevadaooo    时间: 2022-6-15 14:42
这是台湾的资料?
作者: shapeofyou888    时间: 2022-6-15 15:26
nevadaooo 发表于 2022-6-15 14:42
7 i% [1 p3 X# i2 g这是台湾的资料?
5 h+ M' a4 Q& Z) j, F
应该是的,台湾用繁体字& {, ?7 D8 O1 j- ]4 K- [! M

作者: geronimo123    时间: 2022-6-15 17:47
nevadaooo 发表于 2022-6-15 14:42
1 K" ~7 D9 [0 s4 i' _: J这是台湾的资料?

+ Q# ^! C, U+ X3 ^  }  C是的,很实用的
6 R: U+ a, O' r0 T+ P
作者: seancj    时间: 2022-6-16 15:12
签到签到签到




欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) Powered by Discuz! X3.2