电子元器件失效的常规分类、检测及案例分析

查看数: 470 | 评论数: 1 | 收藏 0

关灯 | 提示：支持键盘翻页<-左右->

发布时间: 2022-5-23 14:12

元器件设计、材料、结构、工艺缺陷引起的失效是元器件常见失效之一，其失效由元器件自身缺陷决定，应用环境和工作中施加的条件是失效的外因，不管应用环境和工作中施加的条件是否出现异常均可出现失效。# v" `* N&nb ...

nevadaooo 发表于 2022-5-23 15:22

元器件设计、材料、结构、工艺缺陷等都是元器件失效的原因

电子产业链人脉资源都在这里！: 纸质名片易丢失、客户信息难管理？Elink+数字名片帮您实现智能人脉管理，助力企业守护客户资源、提升企业形象。免费使用>>

GMT+8, 2025-11-24 12:23 , Processed in 0.156250 second(s), 28 queries , Gzip On.

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

帐号		自动登录	找回密码
密码			注册

回复