半导体器件失效分析

查看数: 523 | 评论数: 4 | 收藏 0

关灯 | 提示：支持键盘翻页<-左右->

发布时间: 2022-4-13 13:55

一般来说，对半导体器件在研制、生产和使用过程中出现小量的失效是很难避免的，随着人们对产品质量的要求不断提高，失效分析工作也显得越来越重要，通过对具体的失效芯片进行分析，可以帮助电路设计人员找到器件设计 ...

yjtj30xe 发表于 2022-4-19 18:34

表面缺陷出厂的时候就应该质量过关

Heaven_1 发表于 2022-4-19 16:08

nevadaooo 发表于 2022-4-13 14:522 A- o% t9 u- b1 o6 }2 Q
表面缺陷和烧毁是比较常见的失效

表面缺陷很重要可以看行业标准怎么避免这类的问题

starskyuu 发表于 2022-4-13 15:54

电参数测试

nevadaooo 发表于 2022-4-13 14:52

表面缺陷和烧毁是比较常见的失效

表面缺陷很重要可以看行业标准怎么避免这类的问题详情回复发表于 2022-4-19 16:08

电子产业链人脉资源都在这里！: 纸质名片易丢失、客户信息难管理？Elink+数字名片帮您实现智能人脉管理，助力企业守护客户资源、提升企业形象。免费使用>>

GMT+8, 2025-11-24 11:56 , Processed in 0.156250 second(s), 29 queries , Gzip On.

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

帐号		自动登录	找回密码
密码			注册

回复