电路可靠性设计：电子元器件失效的常规分类、检测及案例分析

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发布时间: 2022-4-1 15:11

元器件设计、材料、结构、工艺缺陷引起的失效是元器件常见失效之一，其失效由元器件自身缺陷决定，应用环境和工作中施加的条件是失效的外因，不管应用环境和工作中施加的条件是否出现异常均可出现失效。 0 p/ q7 U. ...

瞪郜望源_21 发表于 2022-4-2 17:05

这个资料不错，值得好好琢磨一下

ax639082 发表于 2022-4-1 17:36

学习了

starskyuu 发表于 2022-4-1 15:47

设计、材料、工艺等都可能引起器件失效

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