SOC芯片中整合RF前端有什么好处？

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发布时间: 2021-11-24 13:43

系统级测试现代高集成度的芯片有着“射频到比特流”(“RF-to-bits”)或“射频到模拟基带”的构架。射频部分集成度提高带来最大的冲击之一是测试模式的转移，即使得系统级的测试成为可能。系统级测试有优点也有缺点， ...

damengshu 发表于 2021-11-24 14:15

数字内核(Core)测试可以使用功能测试或结构测试的方法达到

unix155 发表于 2021-11-24 14:14

在RF测试领域，晶片探针测试通常最后会被封装测试代替

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