IC可靠性分析

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发布时间: 2021-9-18 10:02

IC的可靠性受诸多因素的影响。! J6 O3 ^* i, D4 B A# l. Y 7 t# \3 }; l5 ^% u/ ] T. Z6 K1 H9 A3 ~1 ]0 S( {. _6 d, R% ] 软错误（soft error）7 X+ a) U* t {2 i 温度" b& ...

xiananUZI 发表于 2021-9-18 17:40

功耗过高，会导致电流密度上升

hunterccc 发表于 2021-9-18 13:31

高温会加剧电子迁移效应，进而导致设备损耗乃至永久性故障

faker12 发表于 2021-9-18 11:04

制程偏移可能导致关键时序路径的改变，进而影响瞬时性故障率

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