电子器件的可靠性与器件的温度直接相关

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发布时间: 2021-2-7 17:13

研究表明，电子器件的可靠性与器件的温度直接相关，以GaN器件为例，器件的温度每提升20度，器件的平均无故障时间(MTTF)下降一个数量级。而我们知道，手机的MTTF指标一般为104小时，移动通信基站的MTTF指标一般为106 ...

wuhoou 发表于 2021-2-7 17:31

功放的直流耗散功率，需要根据器件的直流偏置特性以及器件的温度通过电路仿真器得到

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