多功能存储器芯片的测试系统设计

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发布时间: 2020-11-30 17:27

本文提出了一种多功能存储器芯片的测试系统硬件设计与实现，对各种数据位宽的多种存储器芯片（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND FLASH、EEPROM等）进行了详细的结口电路设计（如何挂载到NIOSII的总线上），最终解决了不 ...

Bill168 发表于 2020-12-1 08:11

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zawq 发表于 2020-11-30 17:41

随着电子技术的飞速发展，存储器类芯片的品种越来越多，其操作方式完全不一样，因此要测试其中一类存储器类芯片就会有一种专用的存储器芯片测试仪

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