引言 存储测试系统的上电方式是一个非常重要的环节。倒置开关是存储测试系统的关键部件,针对存储测试技术对测试系统低功耗的要求,研制了微型光电倒置开关。与光电开关相似,此种开关具有低电压驱动、低功率损耗 ...
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