氢效应对微电子器件的可靠性影响

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发布时间: 2019-12-10 11:30

气密封装微电子器件内部气氛含量的控制，直接与产品的性能、寿命及可靠性息息相关。美军标MIL-STD-883及国军标GJB548的判据要求，对于内部水汽含量的控制需在5000ppm以下，因为水汽含量超标，将会加速芯片的腐蚀，造 ...

WNSKS 发表于 2019-12-10 13:42

谢谢分享，学习了。

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