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本帖最后由 pjh02032121 于 2015-5-7 20:18 编辑 qingdalj 发表于 2015-5-6 15:20" V- }8 |4 l: A0 y# e 不完全是一回事,wafer test一般指CP,ATE一般指FT。5 c6 k; g# r# f2 S) F' } ATE的字面意思是自动化测试设备,当然CP和FT都是自动化测试。, z$ {* H/ K+ b4 \. d* _ , F5 o: o/ e5 v4 I6 x9 u# K |
| 问一下,前面提到的wafer test 和那个ate测试是一回事吗?合在一起讲有点不明白 |
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