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半导体厂商是如何做芯片出厂测试的

查看数: 1206 | 评论数: 3 | 收藏 1
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发布时间: 2015-5-6 11:01

正文摘要:

大公司每日流水的芯片就有几万片, 测试的压力是非常大,当芯片被晶圆厂制作出来后, 就会进入Wafer Test的阶段。这个阶段的测试可能在晶圆厂内进行,也可能送往附近的测试厂商代理执行。 生产工程师会使用自动测试仪 ...

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gochip 发表于 2019-5-12 22:39
初步了解
pjh02032121 发表于 2015-5-7 20:13
本帖最后由 pjh02032121 于 2015-5-7 20:18 编辑
8 k! m  t& F! E1 `% I
qingdalj 发表于 2015-5-6 15:20" V- }8 |4 l: A0 y# e
问一下,前面提到的wafer test 和那个ate测试是一回事吗?合在一起讲有点不明白

* i1 W- U- N1 V( x1 H不完全是一回事,wafer test一般指CP,ATE一般指FT。5 c6 k; g# r# f2 S) F' }

2 Z' [7 n* {0 [6 d8 FATE的字面意思是自动化测试设备,当然CP和FT都是自动化测试。, z$ {* H/ K+ b4 \. d* _
, F5 o: o/ e5 v4 I6 x9 u# K
qingdalj 发表于 2015-5-6 15:20
问一下,前面提到的wafer test 和那个ate测试是一回事吗?合在一起讲有点不明白

点评

完全不是一回事  详情 回复 发表于 2015-5-7 20:13
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