EDA365电子论坛网

标题: 三极管吸潮失效案例分享 [打印本页]

作者: finishedabc    时间: 2023-1-4 10:11
标题: 三极管吸潮失效案例分享
案例背景
# B+ n+ G: I2 O  d. P
三极管也称为晶体三极管,它被视为电子电路中最重要的器件之一。三极管顾名思义具有三个电极,它最主要的功能是电流放大和开关作用。
本次失效案例中的三极管在仓库存放一段时间后,在PCBA测试过程中集中发生不良。

" g# w- J, l+ h' C/ _7 k% k" I
分析过程

% g1 y0 X8 L! I; r
#1 外观检测
& `7 C- _/ z+ D. f( Z0 j

& ?& J/ j) [5 |9 E, j1 B2 r" V5 s
' K. V- m7 R* w" ^/ \% i* J: J
  \6 t! u/ x1 W+ c( r% z( Z( B
#2 X-ray检测
% _. ?* a' N3 x; M
3 ^6 B$ O% q3 q" b
#3 开封检测
8 P' Y# K9 I3 m

' i: P0 B: f, ~' o
# q2 v+ \2 e+ ]- n/ O9 j
" V, K+ J" V) w8 p" y

$ h7 _* Y: r+ Z3 f+ B
#4 SEM检测
! t4 j/ ?# D9 m5 o

1 Y: k! a  b8 H) @# v2 c
4 K8 V6 K: J7 k. r; o  N0 I
分析结果
) z2 M% k# E& Z: Q- `7 Y0 M" k
经开封检测后观察到金线键合点有脱落的现象,同时晶圆键合点位置有裂纹。之后进行SEM检测,发现晶圆位置有裂纹,且大部分裂纹集中在金线键合点周围。从裂纹的分布状况来看,基本可以排除过流过压造成的损伤。
' {% m3 r1 O/ z5 k) X* P
因此,根据以上的分析,可以推断出造成三极管内部晶圆裂纹的原因是:* V; h3 D1 v4 h5 Z9 x1 }" \7 L) R2 A
1.因三极管存放不当,暴露在空气中时间较长,导致部品受潮;/ K$ U5 M" o0 I2 l
2.受潮三极管在高温中,因受热冲击膨胀,三极管在应力下出现晶圆破裂。
! f; H+ H' C& E9 t$ t/ M+ f
. ]& i5 s/ m  r' P# h
作者: 瞪郜望源_21    时间: 2023-1-4 11:44
不错,美食美味有料好久,尝鲜
作者: fantasyqqq    时间: 2023-1-4 13:18
注意存放环境
作者: zjgss    时间: 2024-11-4 16:07
仓库里面存放能有多高温度,这也能坏的吗




欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) Powered by Discuz! X3.2