EDA365电子论坛网

标题: 微带线阻抗测试的问题 [打印本页]

---

作者: replace    时间: 2022-12-29 13:46
标题: 微带线阻抗测试的问题
最近在测试一款产品的微带线阻抗时，厂家提供了两种测试方法
# K6 f0 D6 D' w* B& V: w（1）TDR测试法
/ w0 L& d/ Y2 _6 U这种测试方法测试可以测试出一段连续的阻抗出来。但是我没看到有关于频率的概念在里面。请问这个有人清楚吗?
（2）smith圆阻抗发
5 m2 i' {4 g: J. Z! }# e这种测试方法只是可以测试某一个频率点的阻抗?不同频率点就有不同的smith圆图?
0 g; F7 k+ r( D. m( i- T. }

---

作者: someone    时间: 2022-12-29 14:50
TDR:Time-Domain Reflectometry ，通过时域方法来量测，肯定看不到频率了；Smith:通过频域的方法来量测，在Smith原图上应该体现为一段圆弧线。

---

作者: nocturne    时间: 2022-12-29 15:06
TDR是时域，但是也可以知道频率（因为 t＝1/f、f＝1/t）、TDR最早的应用可以推导至有线电视建设的时候，为了知道缆线断在哪里！
Smith是频域但是它所能看到的不只是阻抗这么简单，（因为 R±Jw、其中w＝2*pi*frequency)

---

作者: purpose_857    时间: 2022-12-29 15:22
是没有直观的看到频率，不是和频率无关，另外精度的话，看你工作的频率多高了，10GHz以上，个人建议采用smith法。

---

作者: Blah    时间: 2022-12-30 10:58

purpose_857 发表于 2022-12-29 15:22
1 H, B1 P; e4 p1 `/ t! b6 q是没有直观的看到频率，不是和频率无关，另外精度的话，看你工作的频率多高了，10GHz以上，个人建议采用smi ...

& S' y4 \  Z2 }) W: O是的10G是个分水岭，

---

欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/)

Powered by Discuz! X3.2