EDA365电子论坛网

标题: PCB应变过大导致电容失效分析,这样操作应变测试 [打印本页]

作者: dancemonkey    时间: 2022-12-1 10:03
标题: PCB应变过大导致电容失效分析,这样操作应变测试
应变测试可以量化零件所在位置的应变,而根据这个量化的应变来判断零件破裂的风险,从而为改善措施提供方向。' I6 {) ~+ F# P$ B: M7 J2 d

+ X% b1 f2 X0 m7 N, D" z- U
MLCC:多层陶瓷电容器 。
微应变:是一个无量纲的物理量,当一个PCBA受到外力的作用,PCBA就会发生一个形变,拉伸变长应变为正,压缩变短应变为负,行业一般极限参考500μe。主应变:一个平面中最大和最小的正交应变,互相垂直起所在的方向切应变为“0”。
应变率:是用来描述应变变化的快慢的程度。应变的变化量除以这个变化被测量到的时间间隔。应变率也是用来衡量元件破裂的风险,多用于衡量BGA锡点的破裂风险。对于MLCC,主要用应变来衡量元件的破裂风险,对于应变率一般客户没有要求的话,极限值一般参考100000μe/s。
引言:MLCC以其低等效串联电阻,体积小,效率高等特性广泛地应用到各类电子产品当中。但由于陶瓷本身的脆性,导致MLCC在抗变形能力差,从而给电子产品的制造带来了风险和增加了难度。在PCBA生成中,即使MLCC上有裂缝却仍能工作一段时间,所以多数MLCC破裂的情况在工厂端都测试不出来。当这些破裂的MLCC在经过电和热循环后,裂缝会慢慢增大直至电极间短路或者开路而最后失效。由于MLCC的破裂具有一定的潜伏性,因此给产品的可靠性带来了很大的危害。
而通过应变测试来量化制程中MLCC所在的位置应变,可以很方便和直观的知道MLCC在那些工序中有比较大的应变,和同一个工序中那些MLCC所在的位置有比较大的应变。

( Q8 C1 @3 d- A; ^

0 C% g0 P$ H7 B) [; J5 r
案例分析:
走刀式分板导致MLCC破裂。一家做咖啡机的厂商,在一批出货的一款咖啡机过程中,共收到几十台有相同不良现象的机台,经过电路分析发现,不良是由MLCC C134导致的。而通过切片分析,发现C134上的裂纹是典型的机械应力裂纹,是由PCB变形导致的。看其中一个MLCC的图片(红色箭头处是裂纹):
9 O3 X' O  n! m) o) y% ^: r

/ y, }' |& c7 ^9 n- [/ V. }$ ?9 m
通过应变测试,发现分板制程中C134处的产生的应变最大。C134的距离板边的距离如下图所示,C134与分板边的距离约3MM.(贴敷好应变片的PCB,如下图:)

  U& B. {3 h3 O& U9 K# y; P
. v* q2 M* U8 ~

0 E: X. N6 p' R4 R
对整个分板过程进行监测,如下图:
6 E* a$ ^+ o+ P4 n  \7 a5 ?

0 Q$ l6 ^; f) n% ?5 d; W. T; i
- p" i3 d2 ?+ k

% N* b7 p% Z- c: C6 Q9 I
分板结束,如下图:
' ?* A2 U: V5 P; `

5 V$ `+ ?, L- B: I
应变测试结果(P&D Strain)如下:最大主应变值为2269.3μe,远超过目前行业对MLCC的应变标准±500ue,MLCC破裂风险很高,成为了导致PCB失效的潜在杀手。

5 y% Y4 F& L$ h; N7 q

2 W1 D- ^+ s  _! F* m% y3 |; k
9 ?, {; q" \& D* Q/ W
9 q$ x1 J+ b0 `' D. L/ C' k7 {
Strain VS Rate VS PWB点位图如下:

* ]  i" b6 B2 W( z$ Z

; e2 C) a, T* h0 N  T" L
当通过应变测试得知,C134是由于走刀分板制程中的应变而失效,公司找到分板机供应商,对设备进行调整后应变测试结果如下:

2 K' v( b5 s4 ~0 I

4 _* P4 {" h* L& Q+ m

$ S! B; O7 l8 w7 }. s8 i
对整个分板过程进行实时监测,波形图如下图:

( Z1 ~6 p* Q5 b- ]) k& A
. h4 k! d3 w" u- d% {

) o& y; k* R$ s& Q' {' v3 R4 e5 j9 h
Strain VS Rate VS PWB点位图如下:
) S: ~- W# }! G6 P  G1 O/ s

4 L9 U3 s! m. x8 B得知结论:对PCBA生成工序进行应变测试,然后根据测试结果分析,对生成设备或者治具进行调整,降低外部机械力对PCBA产生的影响,有效的控制风险,提升失效率。8 w, {4 `/ S( R8 d

作者: modengxian111    时间: 2022-12-1 11:00
陶瓷本身的脆性会导致MLCC在抗变形能力差
作者: 瞪郜望源_21    时间: 2022-12-1 11:38
真是好东西,很是稀饭,很有内涵和美味,尝鲜一下
作者: tutututut    时间: 2022-12-1 16:04
MLCC的破裂具有一定的潜伏性




欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) Powered by Discuz! X3.2