EDA365电子论坛网
标题:
运放采样地和MCU不共地
[打印本页]
作者:
peerless2021
时间:
2022-11-7 14:10
标题:
运放采样地和MCU不共地
运放采样地和MCU不共地,这样采样到的电压会准吗?这样是否正确?
" f; ]- T2 B4 u; B* `: f0 h
160949lw6yym03w0qcc1hp.png.thumb.png
(310.32 KB, 下载次数: 7)
下载附件
保存到相册
2022-11-7 14:09 上传
u5 g) q( I( E
作者:
dream123
时间:
2022-11-7 15:03
总有一个地方用电阻或磁珠相连两个地
作者:
Tomma
时间:
2022-11-7 15:03
看隔离方式,如是0欧电阻或者磁珠来进行数字地与模拟地进行隔离,影响不大
作者:
qian211111
时间:
2022-11-7 15:13
我们理解的地和电路板LAYOUT 之间,由于有一些布线导致的微小阻抗,所以略有不同,有些时候,为了引导新手,要区分地,结果大家更搞不明白了。如果是低频信号,采样精度不高,就用一个地就好了。如果区分开了,不知道怎么布线,容易行成电路环,增加EMI。
6 K) C) T- u8 b' G; Z4 P
作者:
li205212021
时间:
2022-11-7 15:17
引入一个二地间的共模信号而已。
作者:
1597689180@qq.c
时间:
2022-11-18 15:10
学习学习!
欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/)
Powered by Discuz! X3.2