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标题: EMC辐射骚扰测试的问题,请帮忙提供提供思路,谢谢 [打印本页]

作者: elephant_    时间: 2022-10-13 13:45
标题: EMC辐射骚扰测试的问题,请帮忙提供提供思路,谢谢
最近公司一款产品做EMC辐射骚扰测试,在特点频点发现是接手柄的线缆的辐射发射造成超过标准限制,因为把手柄加整个线缆去掉的时候就明显没有这几个频点的超标了。8 C; c2 E  L4 o* B7 ~6 R
那么问题来了,因为最近看了差模和共模的概念,有点迷糊,我的理解是:2 s( x$ r$ r$ t* d; k2 n% [  p
1:这个问题应该是线缆上面的共模辐射导致超标。不知道理解对不对?有没有可能是差模电流造成的?
/ J8 D' W+ F- K( K. b( w2:如果整改,我的思路是,和这个手柄相连的所有的PCB布线在主板上要处理好,所有的线要就近参考相邻层的GND,且不能跨分割7 X( O9 _" N& i
3:还有一个疑问,就是要不要再进手柄线的connector处,每根信号线都加电容呢?或者加一些滤波?
  x& n& B& [8 h, }3 i# ^以上三个疑问有没有相似经验或者高手能够提供一点思路?感激不尽啊。谢谢7 I# o/ S0 d) f$ L2 g# G

作者: purpose_857    时间: 2022-10-13 14:55
这个说得不详细,要看是什么噪声超标,手柄这种一般是由于手柄和主机的GND回路不够造成
作者: unfaithful2021    时间: 2022-10-13 15:08
44M 及其倍频超标,找下源,降低点,回路弄好些,应该很容易能通过6 Q% Q/ d/ P( y, w  w6 d* o+ r

作者: whatever_    时间: 2022-10-13 15:16
源端:降低晶振的能量,如磁珠+RC滤波;另,看下晶振RF回流路径上是否存在较大地阻抗(裂缝、开槽、大面积过孔),回流在这个高阻抗上会形成共模电压,共模电压会驱动共模电流通过线缆发射出去
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作者: xiaoyanz    时间: 2022-10-14 17:50
不准确。线缆只是相当于这个辐射中的天线。共模干扰通过它辐射了出去。差模电流造成的辐射是环路过大造成的,和这个不是一个概念。措施是可以的。




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