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标题: 元器件可靠性试验类型及潜在缺陷一览表 [打印本页]

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作者: unix155    时间: 2022-7-18 10:00
标题: 元器件可靠性试验类型及潜在缺陷一览表

本文内容不多，但表中诱发机理和可能暴露的缺陷很值得学习。

$ x& \0 v: C% g& W9 g8 n- E6 O  f

0 M3 u2 C" _) G$ O. f% M2 q

2 S- l$ I$ R2 A

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作者: fantasyqqq    时间: 2022-7-18 13:14
不同试验都有不同的方法

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作者: qinhappy    时间: 2022-7-19 16:43
可以把原文件传上来。

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