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2.2 SEM 观察和 EDS 分析 B$ g# \) W* ]) ]8 a/ w分别对 USB 壳锈蚀部位(壳体及尾部)及正常 USB 壳表面进行 SEM&EDS 分析,代表性SEM 照片及能谱图详见图 4、图5, 测试样品的 SEM 照片显示:USB 壳锈蚀部位均检出碳(C)、氧(O)、铁(Fe)、镍(Ni)元素及高含量的强腐蚀性的硫(S)、氯(Cl)元素,同时还检出较高含量的锡(Sn)元素;正常 USB 壳表面仅检出铁(Fe)、镍(Ni)元素。 0 p. r& d8 X; \ E$ {. d , t$ y6 m- C d0 P$ q) C1 B " T* |1 |3 S1 z1 H