EDA365电子论坛网
标题: 元器件失效 [打印本页]
作者: zxcvbvbnmn 时间: 2022-5-16 16:13
标题: 元器件失效
元器件设计、材料、结构、工艺缺陷引起的失效是元器件常见失效之一，其失效由元器件自身缺陷决定，应用环境和工作中施加的条件是失效的外因，不管应用环境和工作中施加的条件是否出现异常均可出现失效。
$ E: m1 W+ C3 U0 z5 W0 B
此类失效往往发生在产品使用的初期，并在产品寿命周期内均陆续由失效发: p% c( z& b. n. c6 {) Y5 @3 K; ^
生，贯穿于产品寿命周期，引起早期失效率和随机失效率异常增大。
5 t4 S+ |7 k$ b( f2 m
从元器件的规范指标的常规检测中比较难发现此类问题,通常要通过某种应
* D* J. H& n8 Z0 Q4 B力(如电压、温度、湿度)的激发后才出现某种指标的异常。
& W& a8 u+ d @
作者: somethingabc 时间: 2022-5-16 17:07
可靠性很重要
| 欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) |
Powered by Discuz! X3.2 |