Delta-L+ PCB Characterization Tool - EDA365电子论坛网

Delta L法是Intel提出，目前已大量应用于服务器产品量产测试的方法，是SET2DIL方法的替代。Delta L法设计两条不同长度的传输线（如图6所示），传输线通过过孔（Via）、焊盘（Pad）等连接至测试探针或SMA，采用VNA测试长短线的插损值，其中，结构A的插损值ILA = ILX1 + ILVias，结构B的插损值ILB = ILX2 + ILVias，在获取长短线的插损后，先进行拟合运算，消除多重反射的影响，再直接做差值操作，从而获得单位长度传输线的插损值：IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。为弱化测试系统的的不匹配效应及多重反射对插损结果的影响，Delta L法对长度线的长度有严格要求，一般地，长短线差异需大于7.5 cm，以使多重反射的影响最小化[2]。

Delta L对校准没有要求，可以不做SOLT等校准即可进行测试，且可有效去除过孔等夹具效应对测试结果的影响，操作简便、测试精度高，因此应用逐渐广泛。