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标题: 失效分析主要步骤和内容？ [打印本页]
作者: cscscwwwrte    时间: 2022-1-17 16:02
标题: 失效分析主要步骤和内容？
1. 芯片开封：去除IC封胶，同时保持芯片功能的完整无损，保持 die，bondpads，bond wires乃至lead-frame不受损伤，为下一步芯片失效分析实验做准备。
/ W* p- \0 X, G% e2. SEM 扫描电镜/EDX成分分析：包括材料结构分析/缺陷观察、元素组成常规微区分析、精确测量元器件尺寸等等。
! m- B6 m8 \9 l3 B+ j& O4 ~8 J( R3. 探针测试：以微探针快捷方便地获取IC内部电信号。镭射切割：以微激光束切断线路或芯片上层特定区域。4 m* k6 `9 D+ A% F* W
4. EMMI侦测：EMMI微光显微镜是一种效率极高的失效分错析工具，提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光），由此捕捉各种元件缺陷或异常所产生的漏电流可见光。) g- k" ]0 z% _; S9 c4 C, W
5. OBIRCH应用（镭射光束诱发阻抗值变化测试）：OBIRCH常用于芯片内部高阻抗及低阻抗分析，线路漏电路径分析。利用OBIRCH方法，可以有效地对电路中缺陷定位，如线条中的空洞、通孔下的空洞。通孔底部高阻区等，也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充。1 }" e. k5 f- m/ }
6. LG液晶热点侦测：利用液晶感测到IC漏电处分子排列重组，在显微镜下呈现出不同于其它区域的斑状影像，找寻在实际分析中困扰设计人员的漏电区域（超过10mA之故障点）。
; {- ^2 c1 j+ H; T3 K) T7. 定点/非定点芯片研磨：移除植于液晶驱动芯片 Pad上的金凸块， 保持Pad完好无损，以利后续分析或rebonding。
' V% \9 q* P. \: v8. X-Ray 无损侦测：检测IC封装中的各种缺陷如层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性，PCB制程中可能存在的缺陷如对齐不良或桥接，开路、短路或不正常连接的缺陷，封装中的锡球完整性。
; _- r4 K. I( T# O. T  I$ _9.  SAT超声波探伤可对IC封装内部结构进行非破坏性检测, 有效检出因水气或热能所造成的各种破坏如：o晶元面脱层，o锡球、晶元或填胶中的裂缝，o封装材料内部的气孔，o各种孔洞如晶元接合面、锡球、填胶等处的孔洞4 @! @  H  r( x3 f9 H6 E

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作者: DuBois_1wwe    时间: 2022-1-17 16:55
失效分析有8个步骤其中移除植于液晶驱动芯片 Pad上的金凸块Pad完好无损便于后续分析或rebonding。
作者: DunklopS15    时间: 2022-1-17 17:41
扫描电镜/EDX成分分析包括材料结构分析/缺陷观察
作者: 瞪郜望源_21    时间: 2022-1-20 13:43
excellent prefessional precious datas !!!  thanks for your sharing !!!



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