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标题: 电子元器件FMEA的常见失效 [打印本页]

作者: House647    时间: 2022-1-10 13:52
标题: 电子元器件FMEA的常见失效
本帖最后由 House647 于 2022-1-10 13:54 编辑
+ I0 {3 E; }$ I9 _$ {  q1 K
6 K0 z% W+ g. {3 a/ T电子元器件的失效是引发电子电路或系统故障的主要因素。' `, o  W9 l" c# i( C/ _4 a
电子元器件失效率曲线的特征:浴盆曲线
8 f% ^# t# @5 x5 Z; t如图:从曲线上可以看到,电子元器件的失效周期随时间的变化大致分为三个阶段:早期失效期、偶然失效期、耗损失效期。) R/ P* o  ~  K, d
早期失效期,此阶段的特点:失效率高、可靠性低,但随工作时间的增加而失效率迅速下降。产生早期失效的原因:一 元器件在设计制造工艺上的缺陷;二 元器件本身材料、结构上的缺陷;
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偶然失效期,是电子元器件的正常工作期,其特点是失效率比早期失效率低且稳定。这一时期的失效由偶然不确定因素引起,失效时间也是随机的。( h9 N: o8 u* |! L3 X/ {1 L
* o+ {1 h7 F9 @8 O. t

/ P" g  L5 S2 I" v7 ^: }0 E耗损失效期,与早期失效期相反,失效率随工作时间增加而上升。此阶段由于元器件长期使用而产生的损耗、磨损、老化、疲劳等有原因引起。
. b9 P7 e6 p3 H- [) z
$ @5 M* q1 F" q; U  [  p( }4 R2 y# h& C5 E. p
电子元器件的可靠性与规定的条件是分不开的,规定条件是由使用时的工作条件、环境条件或储存条件等组成。工作条件指使用时的电压、电流和功率等,环境条件或储存条件是指所处的温度、湿度和气压等。
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7 S5 b, F0 E7 v& A3 e' X( m5 j根据经验,电子元器件故障的原因主要有两个:一是不正常的电气条件;二是不正常的工作环境。优良的电气条件取决于电路的正确设计。如果元件能够在额定状态下工作,其寿命就会较长。如果过载使用,寿命就会缩短。其次,环境条件中如高温、高湿、空气中的尘埃和腐蚀性化学物质、ESD等都会影响元器件的寿命。
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, P$ s% V4 ?9 u7 d) o/ j
) U! `" G, u( b常见的元器件失效如下:
  o+ }8 U& U2 t8 Q(见附件): L2 ?' Z- P8 V' N; H/ D
而按照导致的原因可将失效机理分为以下六种:
% |# }( [, I" Q0 S6 b0 S1、设计问题引起的劣化$ H) U, r4 l0 r; {! @
指版图、电路和结构等方面的设计缺陷;' _3 H( z, Q' X  R2 c5 J
2、体内劣化机理
' p+ d' P/ R" a! {- d" c2 s指二次击穿、CMOS 闭锁效应、中子辐射损伤、重金属玷污和材料缺陷引起的结构性能退化、瞬间功率过载等;) @  N& S$ C& x3 r3 o
3、表面劣化机理
+ a$ o* A$ h9 T指钠离子玷污引起沟道漏电、γ辐射损伤、表面击穿( 蠕变) 、表面复合引起小电流增益减小等;- \4 U; ?1 x1 k: A7 |
4、金属化系统劣化机理
) v  ~2 \& x% C" H指铝电迁移、铝腐蚀、铝化伤、铝缺口、台阶断铝、过电应力烧毁等;
$ Z9 O* K$ Q3 n$ j0 V5、封装劣化机理& ]' M2 r+ s2 ?  ?3 v. e7 a' t
指管腿腐蚀、漏气、壳内有外来物引起漏电或短路等;
) O. w; c' l7 H. l6 U, c6、使用问题引起的损坏指静电损伤、电浪涌损伤、机械损伤、过高温度引起的破坏、干扰信号引起的故障、焊剂腐蚀管脚等。7 w9 K9 D# d7 k! p, P0 P

5 I/ t; a4 W# ^: m. b ( `$ e3 o3 i7 g9 m$ e, [' A' M3 d
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作者: 瞪郜望源_21    时间: 2022-1-10 13:59
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作者: astray666    时间: 2022-1-11 22:39
学习看看,谢谢分享!




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