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标题: 了解你的被测试装置 [打印本页]

作者: choose521 时间: 2021-12-16 13:56
标题: 了解你的被测试装置
被测试装置(DUT)的性能会显著影响射频测量。例如，温度会影响稳定性，并因此与可重复性密切相关。许多射频器件和射频仪器没有对温度变化的内部补偿。因此，它们必须在稳定的温度下工作以使温度漂移引起的测量误差最小。当前的环境（例如，空调循环的开启与关闭，覆盖物和面板的移除或增加，处于户外或室内，以及是否接近热源）会有很大影响。需要注意适当的预热时间、被测试装置的冷却需求和周边的环境以确保温度稳定性。
在有源器件中，过高的功率会导致发热。例如，在测试高功率放大器时，被测试器件本身可以保持温度稳定，但是下游组件会怎么样呢？看看是否有开关或衰减器因为放大器的输出而被加热。寻找由放大器产生的异常信号，例如谐波。电源线容易受到可直接叠加到输出的环境噪声的影响。而且，测量放大器的线性参数（增益和相位），随后却发现放大器同时处于被压缩状态是令人沮丧的。所有这些都影响了射频测量的精度。在器件被测试前对其本身、其运作方式以及它对射频测量参数的影响进行了解，会得到有意义的结果。

作者: CLBuu 时间: 2021-12-16 19:14
性能会显著影响射频测量

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