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标题: 电子元器件失效分析-就选广电计量! [打印本页]

作者: 刘工在线    时间: 2021-12-10 17:58
标题: 电子元器件失效分析-就选广电计量!
电阻类元件失
& `) A% K* V0 _8 c. ~( Z1 J效分析 * I; O3 [9 i5 v9 j
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 0 i2 d% l5 B2 x  k( O$ {
性分析,切片,SEM&EDS 等
: D' D1 O+ M4 |0 ]面议
9 m, J  D9 ~* H9 K金属膜电阻器、 片式固定电 0 X! u* j; r# d# P* U
阻器、金属箔固定电阻器、线
; Y( L% M, q% M: K. a绕电阻器、电位器、热敏(温 * K3 ]7 n5 e9 `- o1 N
度传感) 电阻器 $ c$ f8 R; Q0 A9 x- x3 T4 W  h
2
1 e7 Z2 `) J- v6 R) }2 g' M; z* D电容器元件失
4 [( y7 l9 |# `" o# H' g. d效分析
3 z# }0 V) ]; |0 |6 J" {6 e外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 ( s, T9 E" }6 S9 `
性分析,切片,SEM&EDS 等
# D& z' B0 x5 G4 Y  R面议 4 Y, v0 K! E7 E
陶瓷电容器、瓷片电容器、云
( a( }  B8 f7 M) c6 [7 H: @母电容器、薄膜电容器、非固 $ t2 B7 j% M2 n9 T; [) o( {
体电解质钽电容器等 8 @3 n& J; U$ R
3
/ g* N( m7 |5 X" b电感元件失效
. X7 _+ ?1 T( I# b* Y) c分析
9 S1 l2 b  |" U外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 # ]0 O7 V" H: J8 J5 _( a& B8 m
性分析,切片,SEM&EDS 等 7 ?% ]- Y! B% {& Z" D
面议 $ R; K" G/ M! G- C+ @; T, O* }- {) K
共模抑制电感、环形电感、晶
7 z" d+ m* N, J) h体谐振器、连接器
4 N: a& r# y) G$ s4 9 a$ c' K5 b1 F6 C( ^. ]
机电类器件失
* @; s8 m/ Z* \效分析
5 j8 p+ d. K& X0 a+ p- @; ^外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
& s, W: J7 k1 V# I) S, B( Q9 I性分析,切片,SEM&EDS 等   j6 l4 E% n' _( J$ ]5 ]' ~
面议
7 N6 A; o; K7 P7 \电磁继电器、固体继电器、接
) A- f  v) w7 }+ M口变压器、压力传感器、开关 ( ]& E. p+ I* m5 b5 Y' x& h. @
5
! c& D$ K* F: q光电类失效分 ) }7 s6 [5 V# h9 \7 ]; Z# F
( l# m" \  Q9 a
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
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面议 % k  l# |  b& D/ A5 |7 Y6 Z
光耦、真空管、激光器 + d% r( a2 K/ r: j1 \+ H4 k' e
6 8 A/ m; H  I2 }
二极管、三极
. h$ o* P: W% v. A" u1 I  R管、MOS 管失 0 _0 j+ m' l( D
效分析 9 S) G7 t- H  [& G+ C- Q
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
* y8 z* q& N" ]& G$ ?# M性分析,切片,SEM&EDS 等   a" z! u) z% v
面议
3 L& V# q+ n! G/ B7 $ w: j/ B" Z6 q# n% b1 A
功率器件失效
( @$ y# V$ m& G% \& X分析 8 A6 L9 o7 s) V& g' Y/ M4 |
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
8 \* L! }( L; {性分析,开封、切片,SEM&EDS 等 4 T. E/ v, b: t1 n, N
面议
6 V2 G0 i8 v# M/ T& [IGBT、整流桥、可控
0 B- f3 [# i: r) S 电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf (104.6 KB, 下载次数: 1)
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作者: CLBuu    时间: 2021-12-10 18:23
X-RAY,电参数测试是常见的分析方法
作者: 瞪郜望源_21    时间: 2021-12-15 12:48
rare resource!!! excellent  professional  datas!!!  thanks for your sharing!!!
作者: ad_gao    时间: 2021-12-16 16:04
电容的失效性要好好测,一个板子用的太多了: L* o/ i) F0 M) j- ~4 Q





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