EDA365电子论坛网

标题: 光触发电子测压仪可靠性设计及分析 [打印本页]

作者: 刘工在线    时间: 2021-12-8 15:50
标题: 光触发电子测压仪可靠性设计及分析

2 L& z% w$ E/ k6 E5 ^" o
  p1 m* }5 v0 k' B/ F% c+ C
0 K7 t. P' D8 _5 \9 w. p; U
摘 要针对光触发电子测压仪在多点测试过程中容易受火炮膛内复杂环境高温高压强电磁的影响等问题6 i" C1 S8 g, Y3 ^
过设计合理的光窗结构增强测压仪外壳的密封性能和整体强度采取在光窗处附着一层电磁屏蔽薄膜的措施降低: q- q, f- c5 B9 l
来自火炮发射时产生的电磁干扰在模拟复杂条件下采用有限元分析软件对改进后的测压仪光窗及壳体进行强度& S. H7 g* F  e0 a# J( E
仿真同时对壳体的电磁屏蔽性能进行分析仿真结果表明改进后的光触发电子测压仪壳体满足膛压测试要求. K1 M1 C* v5 v4 K) D6 V: A# O
磁屏蔽性能得到进一步改善通过实验测试验证光触发结构设计的合理性和有效性达到系统的设计要求( r# s, A( n( ]; K: b9 Z
关键词激光触发可靠性设计仿真电磁屏蔽 0 X9 X3 R) g/ N# E/ d- B# ~
4 d3 A! M1 L9 A5 f# L( ]  J* [

" N$ |) H" Y" i0 m+ X3 k$ ~
; I$ W  T1 w, E1 O$ Q4 C  l
光触发电子测压仪可靠性设计及分析.pdf (1.2 MB, 下载次数: 1) 5 ]2 h2 V) K0 @2 b. u' N) y9 K

  T% V6 l1 _/ l3 d
作者: ssdgh    时间: 2021-12-8 16:58
改进后电磁屏蔽性能得到进一步改善




欢迎光临 EDA365电子论坛网 (https://bbs.eda365.com/) Powered by Discuz! X3.2