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标题: 电子元器件失效性分析报告文案 [打印本页]
作者: unix16785 时间: 2021-11-25 15:35
标题: 电子元器件失效性分析报告文案
电子元器件失效分析技术
第一讲 失效物理的概念
9 S, |3 I& v [/ V+ Z
0 _' a0 j5 Z2 @+ Q8 s2 j失效的概念
失效定义
1 特性剧烈或缓慢变化
2 不能正常工作
失效种类
1 致命性失效：如过电应力损伤
2 缓慢退化：如 MESFE的T IDSS下降
3 间歇失效：如塑封器件随温度变化间歇失效
# x, z- Z1 j1 M% h
7 b7 a' e* k T: m失效物理的概念
定义：研究电子元器件失效机理的学科 失效物理与器件物理的区别 失效物理的用途
7 L* g+ p- [. `1 i. c
) a, I3 q, O \失效物理的定义
定义：研究电子元器件失效机理的学科失效机理：失效的物理化学根源
举例：金属电迁移
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. t7 T) j! k9 Y+ T2 P: F. [. j) H3 s" _& [; `; c& g3 G& i; o4 @
作者: WWolla 时间: 2021-11-25 15:56
本帖最后由 WWolla 于 2021-11-25 15:59 编辑
9 Q& [* A- @: L3 H% M0 D0 H. m9 ?$ ]7 S6 F' X
研究电子元器件失效机理的学科失效机理
0 \# e$ J( y4 F. s/ z- |! Q# |1 f. s5 c# m
作者: 瞪郜望源_21 时间: 2021-11-29 15:57
very good!!! excellent professial course!!! thanks for your sharing !!!
作者: Heaven_1 时间: 2021-12-17 17:12
震动实验也很重要
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