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标题: 元器件失效分析的几个关键点 [打印本页]
作者: 刘工在线    时间: 2021-10-21 14:50
标题: 元器件失效分析的几个关键点
元器件失效分析的几个关键点5 s) R/ T) H  F" y9 e- ]% m  |, u6 u
器件失效会存在于产品的整个生命周期，如果缺乏对各个阶段失效信, ?: j- x7 ]; @# E2 I: f- m7 z+ y
息及失效器件的收集，失效分析工作将失去必要的物质基础。因此，开展失效
- G4 d/ A2 m3 a% w- H7 B# p分析，必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制4 w9 ~$ T# R0 y* Z
度。) \* U5 A0 |% t3 U' G' L. x% k2 F' _
失效预警及启动分析机制/ }( R0 \2 e5 _5 n
失效分析虽然重要，但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻* Z  ^# m$ `4 f) ~+ Q2 L+ W
底地分析。在产品生命周期内，器件失效具有明显的阶段性特点，不同阶段失
- q% D& z% o0 `3 d, u效的原因也有所不同，因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而" r7 P$ O$ A- F1 U5 T" ~
实际操作中，应根据具体情况来灵活处理，根据需要决定是否启动失效分析。
9 N6 G: G. A: p5 x  Y( w开发阶段失效数量少，但相对的失效率很高，而且设计使用问题、新器$ I) A# _* R: ?
件质量问题相对较多。在该阶段发现问题，更改成本也较低。因此应适当降低
" F1 U" |) x& c% L预警门限，加大失效分析的覆盖面。
9 a# ~* g5 R5 @+ O* Z9 P生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD 问题、测试过4 o! w  F: F+ p
应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题，预警门限相( q2 S6 u0 u( {* m4 W' W; r
对较高
6 M8 M4 N/ P- T) N( m3 _. r6 x% K) [7 X& H. O: @
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作者: 刘工在线    时间: 2021-10-21 15:31
本帖最后由 yuepding 于 2021-10-22 09:28 编辑 / H" {$ w% R  v: @% k* Q
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失效分析第一次接触，有好多不明白的
作者: 行者～ABC    时间: 2021-10-22 09:28
本帖最后由 行者～ABC 于 2021-10-22 09:50 编辑
$ Q0 T+ F  ]. _0 O" |& D* p6 Z9 d1 k. j. j5 B4 \3 N
失效分析工作具有较强的专业性，从失效分析的过程看，主要可以分为
* H+ D0 d# u9 _7 f% J" M( b失效确认，无损检测，解剖分析
作者: awesome    时间: 2021-10-22 09:52
建立失效信息和失效器件的收集制
; n) i# e' h9 }4 c( J' U& o度很重要，是以后找到问题的第一手资料



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