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标题: 电子元器件失效分析 [打印本页]

作者: 刘工在线 时间: 2021-10-19 10:37
标题: 电子元器件失效分析

1.失效分析的目的和意义

电子元件失效分折的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象.分辨其失效模式和失效机理.确定其最终的失效原因，提出改进设计和制造工艺的建议。防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。失效分折是产品可靠性工程的一个重要组成部分，失效分析广泛应用于确定研制生产过程中产生问题的原因，鉴别测试过程中与可靠性相关的失效，确认使用过程中的现场失效机理。

在电子元器件的研制阶段。失效分折可纠正设计和研制中的错误，缩短研制周期；在电子器件的生产，测试和试用阶段，失效分析可找出电子元器件的失效原因和引起电子元件失效的责任方。根据失效分析结果。元器件生产厂改进器件的设计和生产工艺。元器件使用方改进电路板设汁。改进元器件和整机的测试，试验条件及程序，甚至以此更换不合格的元器件供货商。因而，失效分析对加快电子元器件的研制速度.提高器件和整机的成品率和可靠性有重要意义。

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电子元器件失效分析.rar (704.37 KB, 下载次数: 1)

作者: CLBuu 时间: 2021-10-19 13:14
电阻器失效机理是多方面的，工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程是引起电阻器老化的原因。

作者: 瞪郜望源_21 时间: 2021-10-19 14:31
不错不错，写的很是到位和很有深度，学习下

作者: 行者～ABC 时间: 2021-10-19 16:14
GaAs微波器件的失效分析，表现为 Idss缓慢减小，通过研究金属－半导体接触退化的机理，确定了金半接触处原子互扩散是根本原因，提出了增加阻挡层作为改进措施，通过对比改进前后的可靠性评价，证明了失效分析的有效性

作者: awesome 时间: 2021-10-22 09:54
在电子器件的生产，测试和试用阶段就应该对器件质量和失效性分析

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