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标题: 2019-2025年中国电子元件制造行业市场分析及投资可行性研究报告 [打印本页]
作者: 埋头拉线ing    时间: 2021-10-12 11:09
标题: 2019-2025年中国电子元件制造行业市场分析及投资可行性研究报告

4 v8 C. |$ z6 r" x- l
& r2 U# z2 H& ]2 D失效定义
! L& B, Z% D  h, K: F3 D1特性剧烈或缓慢变化
4 ?- l1 W# x, Q2不能正常工作
' f9 b) J  c0 Q, U" R3不能自愈失效种类/ D' m8 h; N+ D5 q& V+ q
1致命性失效:如过电应力损伤2缓慢退化:如MESFET的IDSS下降
, o4 G* I1 {/ `1 u2 ^; H3间歇失效:如塑封器件随温度变化间歇失效% z3 o3 c$ k' [* d  f$ p
! S' G$ }* e2 o" J. K
2 B8 B& @6 N: @. r8 Y
! z% R0 a$ |6 V

; |+ c9 r9 I+ \: d5 q: s3 m% g: g2 P% {4 O% B6 \+ j0 d6 h3 e
附件： IC电子元器件失效分析.zip (333.7 KB, 下载次数: 0)
, m9 x4 d  S. d' J
作者: 八戒爱电子    时间: 2021-10-12 11:27
1 E5 N# d( }6 G7 V0 T  h# T
z 应力－时间模型（反应论模型）1 ]$ Z* D# O" m) N* o0 P1 e
失效原因：应力的时间累积效应，特性变化超  k5 e" \! o( A% R2 [0 p
差。如金属电迁移、腐蚀、热疲劳



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