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标题: 微电子器件可靠性的失效分析 [打印本页]
作者: 八戒爱电子    时间: 2021-10-9 10:08
标题: 微电子器件可靠性的失效分析
本次课主要内容：
! i# j) f, w3 L( c5 v* E2 e3 V$ |3 s: @1 v& a$ f
第四章 失效分析' p: y* `  B/ M
4.1 失效模式与失效机理
* Z+ `2 q1 O& P; G4.2 失效模型
4 M3 s- c1 ]9 p9 ?( w& J4.3 失效分析的内容与程序
6 o/ u' M& e  g) N2 Y7 H4.4 微分析的物理基础
4 m5 L7 D) q0 @) D; w* p1 Y  C* J9 C4 n" {5 |; o
补充材料：失效分析图片' g4 r0 [9 l# B
* i$ Y* q; x: I
本次课要点：* ^0 @4 l- l/ c6 S  w
1、失效模式与失效机理定义区别
- `$ [1 n( J) X! \9 H2、了解几种失效模型；& G2 X( o/ ?/ k; H% x
3、掌握失效分析基本原则程序；
1 c1 ^: W. B5 @* }* O4、了解微分析技术的物理基础。
5 J, x& F9 \8 v0 z7 D. I9 v
$ A0 L+ m& ^+ C/ u附件： 微电子器件可靠性的失效分析.zip (6.16 MB, 下载次数: 1)
9 F: Y' m7 n( W- c: L! ^5 z& P$ b, i5 {0 @- \+ i- M6 V9 T
作者: 八戒爱电子    时间: 2021-10-9 10:48
串联模型——绳子从最细处断
% h4 D6 i5 {/ A) O这个模型很重要
作者: 行者～ABC    时间: 2021-10-9 10:49
有的失效可恢复(如雪崩击穿)，有的不可恢复(如ESD)，不可恢复的每次损伤都有影响，累积起来最终导致器件失效。0 h4 o5 z( ?% R8 {/ }
步进应力和序进应力试验就是以这种模型为依据。
! z/ ?5 R- d( y1 [: U& c      (应力不增加额外的失效模式), u) z5 V+ H5 p! H5 B
作者: ad_gao    时间: 2021-10-9 13:57
先做外部分析，后做内部(解剖)分析
作者: 瞪郜望源_21    时间: 2021-10-9 15:06
不错不错，分析的很是到位，内容全面丰富，很有指导和实用性，学习下



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